Eugen G. Leuze Verlag KG
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Veröffentlichungs-NummerDE102015116176A1
Anmeldedatum24/09/2015 00:00:00
Veröffentlichungs-Datum31/03/2016 00:00:00
IPC-HauptklasseH05K 1/02
ErfinderOkouchi, Yuichi, Yamanashi, Oshino-mura, JP; Saido, Norihiro, Yamanashi, Oshino-mura, JP
Anmelder/InhaberFANUC CORPORATION, Yamanashi, Oshino-mura, JP
  
Offenlegungsschrifthttps://depatisnet.dpma.de/DepatisNet/depatisnet?window=1&space=main&content=treffer&action=pdf&docid=DE102015116176A1
  
Vollständige Beschreibunghttps://depatisnet.dpma.de/DepatisNet/depatisnet?window=1&space=main&content=treffer&action=textpdf&docid=DE102015116176A1
  
AbstractEine Leiterplatte mit einem Verdrahtungsmuster zum Erkennen von Verschlechterung aufweist ein Isolatorsubstrat; eine Verdrahtungsmustergruppe, die auf dem Isolatorsubstrat ausgebildet ist und ein Verdrahtungsmuster zum Erkennen von Verschlechterung aufweist; und ein Lötresist, das die Verdrahtungsmustergruppe bedeckt, wobei die Leiterplatte einen Dünnfilmabschnitt und einen Dickfilmabschnitt aufweist, in welchem ein Dicke des Lötresists größer als der Dünnfilmabschnitt ist, und wobei das Verdrahtungsmuster zum Erkennen von Verschlechterung im Dünnfilmabschnitt ausgebildet ist, dessen gesamter Umgebungsbereich oder teilweiser Umgebungsbereich vom Dickfilmabschnitt umgeben ist.

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