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Dokumente
IP-Subsystem für Sensoren
Das Design-Ware-Sensor-IP-Subsystem ist eine konfigurierbare Hardware- und Software-IP-Lösung, die eine rasche Integration von Sensor-Funktionalität in Systems-on-Chip ermöglicht. Das neue IP-Subsystem ist dahingehend optimiert, Daten von digitalen und analogen Sensoren zu verarbeiten, um den Host-Prozessor zu entlasten und eine effizientere Verarbeitung der Sensordaten mit Ultra-Low-Power zu ermöglichen.
Jahr | 2013 |
HeftNr | 10 |
Dateigröße | 490 KByte |
Seiten | 2097-2098 |
Entwicklung thermischer Lösungen für Elektronik- produkte: Integration von EDA- und MDA-Designflows
Jahr | 2013 |
HeftNr | 10 |
Dateigröße | 1,197 KByte |
Seiten | 2089-2096 |
Verbesserte Mold-Haftung auf Kupferoberflächen zur Erhöhung der Zuverlässigkeit von IC-Bauelementen
Jahr | 2013 |
HeftNr | 10 |
Dateigröße | 1,643 KByte |
Seiten | 2078-2086 |
Breites Programm bei anwendungsorientierten Steckverbindern
Jahr | 2013 |
HeftNr | 10 |
Dateigröße | 464 KByte |
Seiten | 2076-2077 |
Leuchtende flexible Flächen
Materialien für organische Leuchtdioden (OLEDs) an Druck- und Beschichtungsverfahren anzupassen, ist Ziel des Projekts ‚cyFLEX'. Die gedruckten OLEDs könnten so künftig leuchtende Flächen für Verpackungen, Beschilderungen und Werbetafeln ermöglichen. Das Karlsruher Institut für Technologie (KIT) und Cynora machen organische Leuchtdioden fit für den kostengünstigen Druck.
Jahr | 2013 |
HeftNr | 10 |
Dateigröße | 464 KByte |
Seiten | 2074-2075 |
Mikrocontroller-Angebot weiter ausgebaut
Als führender Embedded-Processing-Lösungsanbieter bedient Freescale Semiconductor neue Entwicklungen in der Automobiltechnik, Konsumelektronik, Industrieanwendungen und Netzwerktechnik. Zwei aktuelle Beispiele: die 5-V-Mikrocontroller der Baureihe Kinetis-E und die 32-bit Bausteine Kinetis-L.
Jahr | 2013 |
HeftNr | 10 |
Dateigröße | 578 KByte |
Seiten | 2072-2073 |
LEDs gezielt nach Anwendungen spezifiziert
Jahr | 2013 |
HeftNr | 10 |
Dateigröße | 1,102 KByte |
Seiten | 2068-2071 |
Distributor mit aktuellen Programmergänzungen
Jahr | 2013 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 560 KByte |
Seiten | 1806-1809 |
Lotmelange
Jahr | 2013 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 354 KByte |
Seiten | 1989-1990 |
Branchenreport Photonik 2013 – Zustand und Perspektiven der Photonikindustrie
Der im Auftrag der Wirtschaftsverbände Spectaris, VDMA und ZVEI sowie des Bundesministeriums für Bildung und Forschung erstellte ‚Branchenreport Photonik 2013‘ wurde erstmalig auf der Leitmesse ‚Laser World of Photonics 2013‘ in München vorgestellt. Er betont die Bedeutung der Schlüsselindustrie für die gesamte Wirtschaft und dokumentiert deren solides Wachstum seit 2005.
Jahr | 2013 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 401 KByte |
Seiten | 1986-1988 |
REACH – Pflichten zur Information bei Verwendung von SVHC-Stoffen
Jahr | 2013 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 461 KByte |
Seiten | 1981-1985 |
Microelectronics Saxony – Forschen in die Zukunft
Forschungspolitik im Freistaat Sachsen – auf Anregung der EU-Kommission soll Sachsen in der vorgeschlagenen neuen europäischen Industriestrategie für die Elektronik eine herausragende Rolle spielen. Empfohlen wird, den Standort Dresden, einen der drei europäischen Weltklasse-Elektronik-Cluster, weiter auszubauen. Ein entsprechendes Strategiepapier der EU liegt vor.
Jahr | 2013 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 700 KByte |
Seiten | 1972-1980 |
Modellierungsansatz zur thermomechanischen Analyse von gesinterten Halbleiterbauelementen in der Leistungselektronik
Jahr | 2013 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 583 KByte |
Seiten | 1957-1963 |
Herstellung freigestellter Ag-Sinterschichten mit unterschiedlichen Porositäten zur Charakterisierung mechanischer Kennwerte
Jahr | 2013 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 568 KByte |
Seiten | 1950-1956 |
LTJTSilber- Sintertechnologie im Verbundprojekt ‚ProPower‘ – neue Materialien, Prozesse und Prüfverfahren
Jahr | 2013 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 1,306 KByte |
Seiten | 1937-1949 |
Aufbau- und Verbindungstechnik leistungselektronischer Module und Baugruppen
Jahr | 2013 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 871 KByte |
Seiten | 1930-1936 |
Quad-Core PXI-Embedded-Controller erledigt komplexe Testaufgaben
Der PXI-3980 mit Dual-BIOS-Backup kann Wartungskosten reduzieren und Lösungen für Multitasking-Testund Mess-Applikationen optimieren.
Jahr | 2013 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 285 KByte |
Seiten | 1925 |
Dynamische Fehleranalyse
Mit der Markteinführung von drei neuen tragbaren Test- und Messgeräten hat RIDGID die Vor-Ort-Fehleranalyse weiter vereinfacht. Das Unternehmen erweitert so sein Produktspektrum um das Digitalmultimeter micro DM-100, die Digital-Messzange micro CM-100 und den Temperatur- und Feuchtigkeitsmesser micro HM-100.
Jahr | 2013 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 265 KByte |
Seiten | 1924 |
Rework & Inspection Workshop der SMART Group
Präzise und effektive Qualitätssicherung mittels 3D-Digitalmikroskop
Hochpräzise Schablonen haben mehr als 10 000 Öffnungen und müssen besonders sauber gearbeitet werden, weshalb man ihre Produktion fortwährend kontrollieren muss. Dies erfordert auch eine Top-Qualitätssicherung. Daher hat die Firma Photocad jetzt 50 000 € in ein 3D-Mikroskop von Keyence investiert. Das Digitalmikroskop VHX 700 ermöglicht präzise Messungen und eine umfangreiche, sichere Dokumentation der Ergebnisse.
Jahr | 2013 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 339 KByte |
Seiten | 1922-1923 |