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Donnerstag, 12 November 2020 07:59

Neuartige Kontaktspitzen: Automatische EMV-Messungen an Ics

von Volker Tisken
Geschätzte Lesezeit: 1 - 2 Minuten
Schematische Darstellung: Kontaktierung eines Koppelpads Schematische Darstellung: Kontaktierung eines Koppelpads

Auf Basis langjähriger Forschungs- und Entwicklungsarbeit konnte Langer EMV-Technik Anfang 2020 eine neue IC-Probe-Generation realisieren, die einen flexiblen Federkontakt als Spitze und visuell überprüfbare Kontakterkennung bietet. Dies ermöglicht eine deutlich präzisere Kontaktierung mit dem IC-Pin sowie Messungen von ICs in BGA-Gehäusen.

Mit den leitungsgebundenen IC-Probes der Langer EMV-Technik GmbH lassen sich normative Bewertungen der Störaussendung (IEC 61967) und Störfestigkeit (IEC 62132; IEC 62215) oder auch entwicklungsbegleitende Untersuchungen durchführen. Dazu gehören u.a. die 1/150 Ω leitungsgeführte Aussendung, DPI (direct power injection) sowie die EFT-Pulseinkopplung.

Die Langer EMV-Technik GmbH kann bereits auf über 20 Jahre Erfahrung im Bereich der IC-Messtechnik und Messdienstleistung zurückblicken. In diesen Jahren wurde das IC-Testsystem mit zahlreichen Messmethoden für leitungsgeführte und feldgebundene IC-Tests permanent weiterentwickelt und optimiert. Das IC-Testsystem umfasst Messtechnik, mit der verschiedenste EMV-Messungen an ICs leitungs- und feldgebunden durchgeführt werden können.HF-Spannungsmesser P750 mit neuer Kontaktspitze und KontakterkennungHF-Spannungsmesser P750 mit neuer Kontaktspitze und Kontakterkennung

Die hohe Messdynamik und Genauigkeit bei der Kontaktierung der neuen IC-Probes erlaubt die automatische Ausmessung komplexer ICs mit dem IC-Testautomat ICT1. Der ICT1 ist ein Positioniersystem für IC-Messgeräte der Langer EMV-Technik GmbH, um automatisierte EMV-Tests an ICs durchzuführen.

Wird die IC-Probe per Hand geführt, lässt sich die Kontakterkennung über einen Taster aktivieren und mittels der integrierten LED visuell überprüfen. Je nach Anwendung und Messaufgabe kann es erforderlich sein, unterschiedliche Kontaktspitzen mit beispielsweise unterschiedlicher Länge einzusetzen. Dies ist auch problemlos möglich, da die Federkontakte über eine Verschraubung unkompliziert und schnell ausgetauscht werden können.

Die Vorteile der Weiterentwicklung zusammengefasst:

  • Verbesserter Pinkontakt mit präziserer Kontaktierung (Pitch bis 0,4 mm möglich)
  • Automatisierbarkeit mit IC-Testautomat ICT1
  • Messung von ICs in BGA-Gehäusen
  • Leicht austauschbare Kontaktspitze – es sind je nach Anwendung individuelle Kontaktspitzen möglich
  • Visuelle Kontakterkennung

Die Langer EMV-Technik GmbH entstand 1998 als Ausgründung aus dem Ingenieurbüro, das Gunter Langer 1992 gegründet hatte, um die Entwicklung und Produktion von EMV-Mess- und Prüf-Technik sowie EMV-Beratung weltweit anbieten zu können. Seit 2019 ist das parallel weitergeführte ursprüngliche Ingenieurbüro in die GmbH integriert.

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