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Charakterisierung der Hochfrequenz-Eigenschaften von Materialien für LDS-MID

Artikelnummer: PLUS-2957
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Charakterisierung der Hochfrequenz-Eigen
Die MID-Technologie erlaubt eine volumeneffiziente Schaltungsintegration insbesondere auch von Hochfrequenzschaltungen wie z. B. Antennen. In einem Forschungsprojekt wurden die für Hochfrequenzanwendungen wichtigen Materialeigenschaften wie Permittivität und Dämpfung von MID-Materialien untersucht, die für die Laser-Direkt-Strukturierung (LDS) geeignet sind. Neben der genauen Materialcharakterisierung in einem Frequenzbereich bis 67 GHz wurde auch der Einfluss von Prozessparametern auf das Dämpfungsverhalten der metallisierten Teststrukturen untersucht und ein attraktiver Technologiedemonstrator für W-LAN-Anwendungen bei 2,4 GHz hergestellt.
 
The MID technology allows a volume-efficient circuit integration especially for high frequency circuits such as antennas. In a research project MID materials suitable for laser direct structuring (LDS) were investigated, regarding important material properties for high frequency applications, such as permittivity and losses. In addition to the accurate characterization of materials in a frequency range up to 67 GHz, the influence of process parameters on the attenuation of the metalized test structures was investigated. An attractive technology demonstrator for Wi-Fi applications at 2.4 GHz was designed.
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