Ein Hauptkriterium für die Prüfbarkeit von SMD- Leiterplatten ist das sehr enge Rastermaß der Bauteileanschlüsse bzw. der Testpunkte.?Es gibt Bauelemente bis 0,02“ (0,5 mm). Gebräuchlich sind auch Leitermittenabstände bis 0,031“ (0,8 mm) und 0,04“ (1 mm). Diese Abstände liegen alle unter dem heute üblichen Raster von Universal- Prüfadaptern und können mit diesen auch nicht in deren jetziger Form geprüft werden. Die ursprüngliche Annahme, daß die Leiterplatten, dank der hohen Miniaturisierung der Bauelemente, in ihren Formen kleiner würden, hat sich in der Praxis auch nicht bestätigt.