Bericht von Dipl.-Phys. G. Keller über eine Fachtagung am 2./3. Mai 1988 in Karlsruhe
Programmiertes maschinelles LötenPhysik des WeichlötensPhysik des DampfphasenlötensProzeßsteuerung beim Reflowlöten von Leiterplatten mit SMDDie Verbindung von der Entwicklung zum Test bestückter Leiterplatten Design und Test SMD-bestückter Leiterplatten-BaugruppenEinfluß der Bestückungsautomatisierung auf die PrüfstrategieVerfahren zur Reduzierung? von Prüfschritten im Fertigungsprozeß von elektronischen GerätenEin Baustein zur Unterstützung?des Selbsttests von mikroprozessor-bestückten BaugruppenVerbindung des Entwurfs mit Test von bestückten LeiterplattenPrüfungen von Leiterplatten mit?analogen und digitalen FunktionenDiskussion / Pressegespräch?Surface Mount Technology – Erwartungen 1978, Realität 1988