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Mikrotomschnitte zur Aufdeckung von Fehlern in Lackschichten

Artikelnummer: GALVANO-15881
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Mikrotomschnitte zur Aufdeckung von Fehl
Zusammenfassung der Studienarbeiten von Birgit Schüttler und Frederico Schoell?im Studiengang Oberflächentechnik und Werkstoffkunde an der Fachhochschule Aalen
Es erfordert detektivische Fähigkeiten, Lackierfehlern auf die Schliche zu kommen. Der optische Aspekt einer Lackierung gibt erste Hinweise auf Fehlstellen und deren Ursachen. Damit konkrete Aussagen gemacht werden können, ist es jedoch notwendig, die Fehlstelle nicht nur in der Aufsicht, sondern auch im Querschnitt zu betrachten. Ausgasungen, Einschlüsse oder Ablösungen können erst im Schliffbild in ihrem ganzen Umfang sichtbar gemacht werden. Die Erstellung von Schliffen ist eine aufwendige Prozedur, die großes handwerkliches Geschick und viel Zeit erfordert. Dieser Auf- wand ist nicht immer gerechtfertigt und sollte durch eine schnelle und einfache Methode ergänzt werden. Mikrotomschnitte sind eine gute Alternative und/oder Ergänzung. Ihre Möglichkeiten und Grenzen wurden im Rahmen von zwei Studienarbeiten im Studien- gang Oberflächentechnik und Werkstoffkunde an der FH Aalen untersucht.
 
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