Toshiba ha presentado dos nuevos fotorelés de alta velocidad que ofrecen mejoras para aplicaciones de comprobación de semiconductores. Los relés TLP3414S y TLP3431S optimizan el espacio de la placa de circuito impreso, ya que el nuevo encapsulado compacto S-VSON4T, con unas dimensiones de 1,45 × 2,0 × 1,3 mm, reduce el área de montaje en un 20% en comparación con los modelos anteriores. Los fotorelés también ofrecen tiempos de conexión un 62% más rápidos que sus predecesores. Esto los hace especialmente adecuados para aplicaciones de pin electronics en comprobadores de semiconductores que miden los dispositivos bajo prueba (DUT) con gran precisión y velocidad y conmutan simultáneamente las señales.
El rendimiento mejorado de los LED infrarrojos optimiza el acoplamiento óptico y el diseño de las matrices de fotodiodos. Esto permite un tiempo de conexión rápido de 150 µs como máximo. En comparación con los modelos anteriores, el tiempo de conexión del TLP3414S se ha reducido en un 50 % y el del TLP3431S en aproximadamente un 62 % sin pérdida de atenuación de la señal. La resistencia de conexión es de 3 Ω como máximo para el TLP3414S y de 1,2 Ω como máximo para el TLP3431S. La capacitancia de salida para ambos modelos es de 6,5 pF, lo que juega un papel decisivo en la reducción de las pérdidas de señal de alta frecuencia cuando la salida está desconectada. La tensión nominal de bloqueo de salida cuando está desconectada y la corriente nominal cuando está conectada son 40 V/250 mA para el TLP3414S y 20 V/450 mA para el LP3431S.
