El Instituto Fraunhofer de Fiabilidad y Microintegración IZM de Berlín ha ampliado su dirección: la profesora Ulrike Ganesh dirige el IZM junto con el profesor Martin Schneider-Ramelow desde el 1 de agosto de 2024. Juntos seguirán desarrollando la dirección estratégica.
La profesora Ganesh aporta su experiencia de muchos años de investigación en el campo de la caracterización y el análisis de fallos de las tecnologías de semiconductores. Comenzó su carrera como postdoc en IBM en Nueva York. Después fue responsable de investigación en análisis de fallos en Qualcomm, en San Diego. La profesora Ganesh se basó en su experiencia de gestión en el desarrollo de chips para automóviles en Robert Bosch.
Más recientemente, dirigió el departamento de "Ensayos no destructivos" del Instituto Federal de Investigación y Ensayo de Materiales. Con su experiencia complementaria, la nueva dirección dual aspira a superar con éxito los retos de la investigación en microelectrónica.
