Cristalización de silicio por láser para sensores MEMS

Cristalización de silicio por láser para sensores MEMS

Para que los sistemas microelectromecánicos (MEMS) sean aún más potentes en el futuro, investigadores del Instituto Fraunhofer de Tecnología Láser ILT de Aquisgrán han desarrollado un proceso de recubrimiento y cristalización láser compatible con CMOS en colaboración con el Fraunhofer ISIT y el IST. A diferencia de los métodos convencionales, este proceso prescinde de cables y uniones soldadas, lo que puede reducir considerablemente el tamaño de los componentes y aumentar el rendimiento de los sensores.

Como alternativa a las técnicas de unión convencionales, el Fraunhofer ILT confía en un proceso basado en láser que permite construir sensores MEMS de silicio cristalino directamente (monolíticamente) sobre los circuitos sensibles a la temperatura. La cristalización a alta temperatura mediante radiación láser por debajo del punto de fusión del silicio se produce de forma selectiva y muy rápida, de modo que no se daña el circuito subyacente. Están surgiendo aplicaciones interesantes de este nuevo proceso en la industria automovilística, la tecnología médica y el servicio de bomberos.

www.ilt.fraunhofer.de

  • Edición: Januar
  • Año: 2020
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