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Wednesday, 08 May 2024 14:15

SYSTECH Europe: Unschlagbare Präzision – Flying Probe Test für höchste Ansprüche

Written by SYSTECH Europe GmbH
Reading time: 1 - 2 minutes
SYSTECH Europe: Unschlagbare Präzision – Flying Probe Test für höchste Ansprüche (Bild: SYSTECH Europe)

Ob einseitig oder doppelseitig, die TAKAYA Testsysteme APT-1600FD und APT-1400F vereinen Innovationen mit bewährter Zuverlässigkeit. Die APT-1400F ist das einseitige System mit insgesamt 4 + 2 fliegenden Nadeln, das doppelseitige APT-1600FD-A System weist bis zu 6 + 4 fliegende Nadeln auf. Hochpräzise Mechanik realisiert Zugriff auch auf komplexeste Baugruppenstrukturen. Für die aktuellen Systeme reichen kleinste Kontaktpunkte von 60 μm zur Netzkontaktierung aus.

Die elektrischen Tests können nach Belieben zum Beispiel durch Signaturanalysen, LED Tests, optische Tests und Laserhöhenmessungen ergänzt werden. Die hohe Prüfgeschwindigkeit und die größere Testabdeckung weiten die Einsatzmöglichkeiten deutlich aus.

2024 05Systech Europe Logo 310314 02Durch die neue PLUS Infinity Software und modernste Interface Standards können die Flying Prober einfach in die Fertigungsprozesse eingebunden werden. Plus Infinity unterstützt daher Schnittstellen wie IPC SMEMA, IPC Hermes, IPC CFX und OPC UA.

Es werden nicht nur Daten mit den MES-Systemen ausgetauscht, sondern die Prüfprozesse können auch durch externe Vorgaben gesteuert werden. Dabei wird die aktuelle Auslastung überwacht, Programme werden automatisch geladen und mittels Fehlerstatistiken ist die Teststrategie beim Flying Prober schnell und einfach anpassbar.

Die Systeme von TAKAYA zeichnen sich durch einfache Programmerstellung, eine hervorragende Testabdeckung und eine herausragende Zuverlässigkeit aus und sind somit der Schlüssel zu mehr Rentabilität und Flexibilität in der Elektronikfertigung.

Auf der SMTconnect werden die Systeme am Stand der Firma SYSTECH Europe ausgestellt. SYSTECH Europe ist spezialisiert auf das flexible Testen von elektronischen Baugruppen und auf Verbindungstechniken in der Mikroelektronik. Halle 4A / Stand 325

 

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