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Um angehende Wissenschaftler für Mikroelektronik und besonders für Green ICT zu begeistern, wird jedes Jahr der Green ICT Award vergeben. Belohnt werden herausragende studentische Abschlussarbeiten im Bereich ressourcenschonende Informations- und Kommunikationstechnologie. Initiiert wird der Studienpreis von der Forschungsfabrik Mikroelektronik Deutschland (FMD).

Miniaturisierung und steigende Komplexität bei Baugruppen macht die Auswahl geeigneter Testverfahren zunehmend wichtiger. Für eine optimale Testabdeckung bietet sich die Kombination verschiedener Testverfahren an – beispielsweise JTAG/Boundary Scan und In-Circuit Test. Dies gilt auch für Baugruppen, bei denen die Testressourcen des ICT-Testsystems nicht ausreichen oder durch die Miniaturisierung die Testpunkte nicht mehr vorhanden sind. Die Autoren verdeutlichen an einem Beispiel aus der Praxis die Möglichkeiten und Vorteile.