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Dokumente
Neues Lagersystem für feuchteempfindliche Bauteile
Ein Trockenlagerkonzept für Rollenware, welches die Floor-Life-Time (FLT) feuchteempfindlicher Bauteile regeneriert, dokumentiert und nebenbei auch ganze Aufträge kommissionieren kann.
Jahr | 2011 |
HeftNr | 11 |
Dateigröße | 157 KByte |
Seiten | 2615 |
Spea-Anwendertreffen 2011: Das Ohr am Kunden
Baugruppen mit hoher Packungsdichte und große Höhenunterschiede der Bauteile auf der Platine sorgen für sich genommen für hohe Testanforderungen. Hinzu kommen die steigenden Anforderungen der Kunden, denen sich Hersteller von Testsystemen ebenfalls stellen müssen. Gut beraten, wer da ein hörendes Ohr hat und mittels Anwendertreffen für eine ausgiebige Diskussionsplattform sorgt.
Jahr | 2011 |
HeftNr | 11 |
Dateigröße | 1,276 KByte |
Seiten | 2618-2626 |
JUMO ist führend in der industriellen Sensor- und Automatisierungstechnik
An ihrem Hauptsitz in Fulda informierte die JUMO GmbH & Co. KG am 22. September 2011 die Fachpresse über ihre neuesten Mess-, Regel- und Automatisierungssysteme und gab Einblicke in wesentliche Produktionsbereiche.
Jahr | 2011 |
HeftNr | 11 |
Dateigröße | 334 KByte |
Seiten | 2628-2630 |
Vosch Electronic setzt zur Qualitätssicherung auf AOI
Die Vosch Electronic AG ist ein Schweizer Elektronikauftragsfertiger, der seine Präzisionsarbeit durch den Einsatz deutscher Inspektionstechnologie absichert. Ausgehend vom Unternehmensprofil werden die Auswahl und die Ergebnisse des AOI-Systems beschrieben.
Jahr | 2011 |
HeftNr | 11 |
Dateigröße | 439 KByte |
Seiten | 2632-2634 |
Deltec prüft mit 3D-SPI-Systemen von Viscom
Die Deltec Automotive GmbH & Co. KG hat sich auch bei der 3D-Pasteninspektion für Viscom-Inspektionssysteme entschieden.
Jahr | 2011 |
HeftNr | 11 |
Dateigröße | 183 KByte |
Seiten | 2635 |
Scannersysteme zur AOI von Leiterplatten auf dem Vormarsch
AOI-Scanner- oder -Kamerasystem? Nachfolgend wird diese Frage erörtert und dabei die Eigenschaften eines modernen Scannersystems für die AOI von Leiterplatten vorgestellt.
Jahr | 2011 |
HeftNr | 11 |
Dateigröße | 633 KByte |
Seiten | 2636-2640 |
Produktinformationen
- Nullfehler-Fertigung sicherheitskritischer Anwendungen mit Siplace SX mit 3D-Koplan-Modul
- Hochauflösendes Lotpasteninspektionsgerät für Druck- und Dosierprozesse von Essemtec
Jahr | 2011 |
HeftNr | 11 |
Dateigröße | 150 KByte |
Seiten | 2641 |
5. Kundentag bei bebro electronic und beflex electronic
Jahr | 2011 |
HeftNr | 11 |
Dateigröße | 299 KByte |
Seiten | 2642-2643 |
Langzeit-Untersuchungen ohne lästige Kabel
ZIM-Förderung für drahtlose Kommunikation in Praxis und Krankenhaus
Jahr | 2011 |
HeftNr | 11 |
Dateigröße | 121 KByte |
Seiten | 2686 |
Energieerzeugung in Exo-Prothesen der unteren Extremität
Jahr | 2011 |
HeftNr | 11 |
Dateigröße | 567 KByte |
Seiten | 2687-2695 |
Globaler Investitionsboom bei Erneuerbaren Energien
Jahr | 2011 |
HeftNr | 11 |
Dateigröße | 112 KByte |
Seiten | 2697 |
Umweltschutz im US-Serviceunternehmen ECD
Jahr | 2011 |
HeftNr | 11 |
Dateigröße | 121 KByte |
Seiten | 2698 |
Pioneer startet Navigationsgerät für Elektroautos
Jahr | 2011 |
HeftNr | 11 |
Dateigröße | 135 KByte |
Seiten | 2699 |
Freescale öffnet Controller-Füllhorn
Mit einem ganzen Reigen an Mikrocontrollern will Freescale Semiconductor durchstarten: Für Furore sorgen will das Unternehmen mit den Digital Signal Controllern, kurz DSC. Die mit einem 32-Bit-Kern ausgestatteten MCUs sollen deutliche Energieeinsparungen ergeben. Auch seine Kinets-Familie hat der Halbleiterhersteller erweitert und für die Automobilindustrie hält Freescale seine Qorivva-Chips bereit.
Jahr | 2011 |
HeftNr | 10 |
Dateigröße | 602 KByte |
Seiten | 2225-2229 |
Kapazitäts-Durchbruch bei Phasenwechselspeichern
IBM Research Zürich hat einen Kapazitäts-Durchbruch bei dem als Flash-Nachfolger gehandelten Phasenwechselspeicher (Phase-Change Memory, PCM) bekannt gegeben. Forschern ist es erstmals gelungen, ähnlich wie bei Flash durch MLC-Technologie (Multi- Level-Cell) mehrere Bits pro Zelle zu speichern. Damit wurde die Realisierbarkeit einer neuen Technologie in einem realen Umfeld auf einem echten Chip nachgewiesen.
Jahr | 2011 |
HeftNr | 10 |
Dateigröße | 140 KByte |
Seiten | 2230 |