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Dokumente

Elektrisches Isolationsverhalten von fotostrukturierbaren Lötstopplacken nach Belastung durch Temperaturdauerstress und Temperaturwechselstress bei 175 °C

Die Anwendung von elektronischen Baugruppen für hohe Betriebstemperaturen ist zwar nicht neu, erfordert jedoch für die Anwendung in der Automobiltechnik aufgrund der Nachfrage und Kostenstruktur neue Lösungswege. Während die elektronischen Baugruppen bis 125 °C sicher und zuverlässig einsetzbar sind, liegen für den Temperaturbereich bis 175 °C für polymere Schaltungsträger noch längst nicht alle Erkenntnisse vor. Nicht nur der ...
Jahr2011
HeftNr9
Dateigröße437 KByte
Seiten2086-2091

Hochtemperaturleiterplatten beziehungsweise Thermomanagement und Leiterplatte

Neue Applikationsfelder der Leistungselektronik (Elektromobilität, Aerospace, HGÜ, LEDs ) setzen neue Maßstäbe insbesondere durch die thermische Belastung der Baugruppen. In diesem Kontext steht auch das Projekt HELP, das mit Förderung der BMBF Programmlinien WING ein neues, temperaturbeständiges System von Leiterplatten, Vergussmassen und Lötstopplacken auf Basis eines neuen Harzsystems entwickeln soll.

Jahr2011
HeftNr9
Dateigröße600 KByte
Seiten2075-2081

Silbersinterverfahren: Die-Attach für Power-Lösungen

Die für Leistungsmodule wie IGBTs oder Hochleistungs-LEDs geeignete Silbersintertechnologie sucht ihresgleichen: Mit Ablestik SSP2000, einem speziellen Die-Attach-Material, präsentiert Henkel eine Materialinnovation, mit der sich Leistungsmodule in einem drucklosen Verfahren herstellen lassen.

Jahr2011
HeftNr9
Dateigröße187 KByte
Seiten2066-2067

Siltronic wird Partner im GaN-on-Si-Forschungsprogramm von IMEC

Die Siltronic AG, Weltmarktführer für Wafer aus Reinstsilizium und Partner vieler führender Chiphersteller, und das belgische Nanoelektronik-Forschungsinstitut IMEC haben eine Kooperation zur Zusammenarbeit bei der Entwicklung von Siliziumwafern mit Galliumnitrid-Schicht (GaN-on-Si) geschlossen.

Jahr2011
HeftNr9
Dateigröße140 KByte
Seiten2069

Fraunhofer IZM ist die beste deutsche Forschungseinrichtung im Bereich Elektrotechnik

Im Rahmen des Forschungsratings Elektrotechnik und Informationstechnik wurden alle 47 in diesen Bereichen tätigen deutschen Forschungseinrichtungen in Bezug auf Forschungsleistung, Effektivität, Effizienz, Nachwuchsförderung und Transferleistung eingehend untersucht. In allen Disziplinen bescheinigte der Wissenschaftsrat dem Fraunhofer Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration (IZM) sehr gute bis herausragende Leistungen.

Jahr2011
HeftNr9
Dateigröße144 KByte
Seiten2068

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