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Dokumente
Elektrisches Isolationsverhalten von fotostrukturierbaren Lötstopplacken nach Belastung durch Temperaturdauerstress und Temperaturwechselstress bei 175 °C
Jahr | 2011 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 437 KByte |
Seiten | 2086-2091 |
Hochtemperaturleiterplatten beziehungsweise Thermomanagement und Leiterplatte
Neue Applikationsfelder der Leistungselektronik (Elektromobilität, Aerospace, HGÜ, LEDs ) setzen neue Maßstäbe insbesondere durch die thermische Belastung der Baugruppen. In diesem Kontext steht auch das Projekt HELP, das mit Förderung der BMBF Programmlinien WING ein neues, temperaturbeständiges System von Leiterplatten, Vergussmassen und Lötstopplacken auf Basis eines neuen Harzsystems entwickeln soll.
Jahr | 2011 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 600 KByte |
Seiten | 2075-2081 |
Silbersinterverfahren: Die-Attach für Power-Lösungen
Die für Leistungsmodule wie IGBTs oder Hochleistungs-LEDs geeignete Silbersintertechnologie sucht ihresgleichen: Mit Ablestik SSP2000, einem speziellen Die-Attach-Material, präsentiert Henkel eine Materialinnovation, mit der sich Leistungsmodule in einem drucklosen Verfahren herstellen lassen.
Jahr | 2011 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 187 KByte |
Seiten | 2066-2067 |
Siltronic wird Partner im GaN-on-Si-Forschungsprogramm von IMEC
Die Siltronic AG, Weltmarktführer für Wafer aus Reinstsilizium und Partner vieler führender Chiphersteller, und das belgische Nanoelektronik-Forschungsinstitut IMEC haben eine Kooperation zur Zusammenarbeit bei der Entwicklung von Siliziumwafern mit Galliumnitrid-Schicht (GaN-on-Si) geschlossen.
Jahr | 2011 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 140 KByte |
Seiten | 2069 |
Fraunhofer IZM ist die beste deutsche Forschungseinrichtung im Bereich Elektrotechnik
Im Rahmen des Forschungsratings Elektrotechnik und Informationstechnik wurden alle 47 in diesen Bereichen tätigen deutschen Forschungseinrichtungen in Bezug auf Forschungsleistung, Effektivität, Effizienz, Nachwuchsförderung und Transferleistung eingehend untersucht. In allen Disziplinen bescheinigte der Wissenschaftsrat dem Fraunhofer Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration (IZM) sehr gute bis herausragende Leistungen.
Jahr | 2011 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 144 KByte |
Seiten | 2068 |