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Dokumente
Verbesserung der Testqualität im Fokus der Boundary Scan Days 2008
Jahr | 2008 |
HeftNr | 6 |
Dateigröße | 612 KByte |
Seiten | 1230-1233 |
Verbesserung der Zuverlässigkeit von Lötverbindungen durch thermo-chemo-mechanische Verfahren
Jahr | 2008 |
HeftNr | 12 |
Dateigröße | 1,038 KByte |
Seiten | 2598-2606 |
Verbesserung der Zuverlässigkeit, Lebensdauer und Kostensenkung in der Automotive-Elektronik durch innovative Leiterplattentechnologie
Jahr | 2012 |
HeftNr | 6 |
Dateigröße | 1,245 KByte |
Seiten | 1310-1321 |
Verbindungen in IMKS mit Sn100Ni+
Jahr | 2022 |
HeftNr | 5 |
Dateigröße | 1,473 KByte |
Seiten | 675-676 |
Verbindungslösungen für die industrielle Netzwerkstruktur einer klugen Fabrik
Auf der SPS/IPC Drives 2013 zeigte TE Connectivity diverse Netzwerk-Innovationen für die industrielle Automatisierung. Damit unterstreicht der Anbieter von Verbindungslösungen seine Vorreiterrolle im Zuge der vollständigen Digitalisierung der Fertigungsprozesse.
Jahr | 2013 |
HeftNr | 12 |
Dateigröße | 727 KByte |
Seiten | 2568-2570 |
Verbindungssystem von Ultrasonic-Wedge-Bondungen auf chemisch Nickel/Sudgold-Schichten
Jahr | 2000 |
HeftNr | 3 |
Dateigröße | 778 KByte |
Seiten | 474-480 |
Verbindungstechniken für hohe Betriebstemperaturen
Jahr | 2013 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 654 KByte |
Seiten | 1717-1724 |
Verbindungstechnologien für die kommende 5G-Mobilfunk-Generation
Die Einführung der neuen 5G-Mobilfunkgeneration mit Frequenzbändern bis zu 6 GHz ist bereits im Gange. Frequenzen von 28 GHz oder sogar höher sollen kommen. Für den Verbindungstechnik-Hersteller bedeutet das, Signalverluste und -störungen zu reduzieren, indem Dielektrizitätskonstante, Materialübergänge oder Kupfer- Rauheit optimiert werden.
Jahr | 2018 |
HeftNr | 7 |
Dateigröße | 1,889 KByte |
Seiten | 1154-1155 |
Verbindungswerkstoffe in der Leistungselektronik
Jahr | 2011 |
HeftNr | 6 |
Dateigröße | 743 KByte |
Seiten | 1400-1407 |
Verbundlote und adaptive Lötverbindungen
Jahr | 2007 |
HeftNr | 1 |
Dateigröße | 3,716 KByte |
Seiten | 151-155 |
Verbundprojekt für gedruckte Elektronik gestartet
Die Unternehmen PolyIC, BASF, Evonik Industries, Elantas Beck und Siemens haben ein vom Bundesministerium für Bildung und Forschung (BMBF) gefördertes Verbundprojekt mit dem Namen MaDriX gestartet. Mit diesem Projekt wird die Entwicklung leistungsfähigerer gedruckter Funketiketten (Radio Frequency Identification, RFID) vorangetrieben.
Jahr | 2008 |
HeftNr | 4 |
Dateigröße | 211 KByte |
Seiten | 772 |
Verdecktes Ermitteln – Röntgeninspektion von Leiterplatten mit Abschirmblechen
Jahr | 2013 |
HeftNr | 6 |
Dateigröße | 855 KByte |
Seiten | 1265-1267 |
Verein zur Förderung der Magnesiumverarbeitung gegründet
Jahr | 2004 |
HeftNr | 5 |
Dateigröße | 46 KByte |
Seiten | 825 |
Vereinfachte Prozesse und Kosteneinsparungen durch Through Hole Reflow-Technologie
Jahr | 2003 |
HeftNr | 12 |
Dateigröße | 164 KByte |
Seiten | 1940-1942 |
Vereinfachter Pull-Test von Wafer-Bumps
Wafer-Bumps kommen in vielerlei Gestalt, und entsprechend komplex ist der Test ihrer Funktionalität und Qualität. Der Bond-Test erfordert den Einsatz von Zug- oder Scherkräften.
Shear-Testing hat den Vorteil der Einfachheit gegenüber dem Pull-Test und ist eine geeignete Wahl zur Ermittlung der im Test interessierenden Ausfälle. Andererseits führt der Pull-Test eher zu einem Bond-Ausfall als dem Ausfall des Bump-Materials.
Jahr | 2016 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 693 KByte |
Seiten | 1550-1551 |
Verfahrensentwicklung: Kontakt-Thermografie für Leistungselektronik
Jahr | 2022 |
HeftNr | 3 |
Dateigröße | 922 KByte |
Seiten | 354-355 |
Verflixt nochmal, schon wieder!
Aus welchem Grund auch immer, man wird von den falsch gedruckten Leiterplatten in der SM-Produktion beinahe verfolgt. Meist ist es zu teuer, besonders wenn der Fehldruck auf der zweiten Seite passiert und die erste schon gelötet ist, die Baugruppe zu entsorgen. Daher stellt sich die Frage, wie man nun am besten billiger wegkommt.
Jahr | 2014 |
HeftNr | 4 |
Dateigröße | 904 KByte |
Seiten | 750-752 |
Verfügbarkeit von Indium und Gallium
Jahr | 2010 |
HeftNr | 2 |
Dateigröße | 717 KByte |
Seiten | 326-329 |
Verfügbarkeit von PCB-Referenz-Designs für IoT-Chipsets von Intel angekündigt
Jahr | 2015 |
HeftNr | 5 |
Dateigröße | 342 KByte |
Seiten | 925 |
Verfügbarkeit von Zinn als Leiterplatten-Endoberfläche
Jahr | 2004 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 75 KByte |
Seiten | 1252-1254 |
Vergießen in der Elektrotechnik und Elektronik
Jahr | 2005 |
HeftNr | 6 |
Dateigröße | 269 KByte |
Seiten | 1080-1082 |
Vergleich der thermischen Eigenschaften unterschiedlicher Insulated Metal Substrate-Leiterplatten
Jahr | 2010 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 717 KByte |
Seiten | 1758-1763 |
Vergleichende Eigenschaften von Legierungen im flüssigen Zustand
Jahr | 2006 |
HeftNr | 12 |
Dateigröße | 820 KByte |
Seiten | 2120-2125 |
Vergleichstest verlustarmer LTCC-Systeme bis 40 GHz
Jahr | 2003 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 538 KByte |
Seiten | 1407-1413 |
Vergrabene Widerstände für den Einsatz in LTCC MCMs
Jahr | 1999 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 795 KByte |
Seiten | 1318-1324 |
Verguss unter Vakuum mit BARTEC Dispensing Technology
Jahr | 2008 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 156 KByte |
Seiten | 1930 |
Vergusstechniken für den Schutz von Flachbaugruppen
Jahr | 2005 |
HeftNr | 5 |
Dateigröße | 454 KByte |
Seiten | 893-901 |
Verhalten von Bleifrei-Lotpasten beim Drucktest
Ein in Zusammenarbeit mehrerer Firmen durchgeführter Drucktest mit bleifreien Lotpasten und die dabei gewonnenen Erkenntnisse werden beschrieben. Getestet wurden zwei verschiedene Bleifrei-Pasten, wobei das Löten ohne Bauteile in einem Vollkonvektionsofen erfolgte. Zum Drucken wurde eine laser- geschnittene Edelstahlschablone mit 127 µm Dicke verwendet.
Jahr | 2003 |
HeftNr | 4 |
Dateigröße | 223 KByte |
Seiten | 607-610 |
Verhinderung von Whiskerbildung
Jahr | 2004 |
HeftNr | 2 |
Dateigröße | 346 KByte |
Seiten | 209-216 |
Verificationstool von Zuken für E3.cable 2009
EDA-Software-Anbieter Zuken hat E3.cable 2009 um leistungsfähige Prüfungen für elektrische Schaltungen erweitert, mit denen Anwender ihre Designs prüfen und deren Funktion verifizieren können, ohne dafür externe Werkzeuge zu verwenden. Für das neue Verificationstool konnte das Unternehmen auf das Know-how der Entwicklerteams für die verschiedenen Zuken-Lösungen für Kabeldesign zurückgreifen.
Jahr | 2009 |
HeftNr | 7 |
Dateigröße | 462 KByte |
Seiten | 1498 |
Verigy: Skalierbarer Chiptester senkt Testkosten
Die Übernahme durch Advantest Group im März 2011 ist abgeschlossen und die Bündelung des Know-hows zeigt nun erste Früchte. Das Tester-Portfolio wurde um ein Kompaktsystem erweitert. Zusammen mit den anderen Testern dieser Reihe bildet sich damit eine Familie von individuell skalierbaren Testsystemen für hochentwickelte Halbleiterdesigns einschließlich 3D-Architekturen und IC-Designs mit Strukturen von 28 nm und kleiner.
Jahr | 2012 |
HeftNr | 4 |
Dateigröße | 341 KByte |
Seiten | 763-765 |
Verklebungsfreie Trommelverzinnung von Kleinbauteilen
Das Verkleben von Schüttgut, welches mit einer Trommelgalvanik verzinnt wird, ist einer der größlten Faktoren für Ausschuss in diesem Prozess. Bei der Firma Schlötter wurde nun ein neuer Elektrolyt entwickelt, der dieses Problem minimiert und die Trommel-Beschichtung in einem Mattzinn-Elektrolyt effizienter macht.
Jahr | 2015 |
HeftNr | 2 |
Dateigröße | 489 KByte |
Seiten | 321-324 |
Verkupferung von Leiterplatten im Pulse Plating-Verfahren
Jahr | 1999 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 984 KByte |
Seiten | 1271-1279 |
Verkupferung von Leiterplatten im Pulse Plating-Verfahren
Jahr | 1999 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 984 KByte |
Seiten | 1271-1279 |
Verlässliche Inspektion von Lötverbindungen an BGA, µBGA, CSP und Flip-chip-packages
Die Qualitätskontrollen im Bereich der Elektronikfertigung werden anspruchsvoller, die Bauteile sind kleiner und komplexer geworden und die Bestückungsdichte der Leiterkarten nimmt immer weiter zu. Bei der zunehmenden Miniaturisierung ist es von entscheidender Bedeutung, Materialfehler noch im Vorfeld auszusortieren, Bestückungs- und Lötfehler zuverlässig zu erkennen und deren Ursachen zu analysieren.
Jahr | 2015 |
HeftNr | 11 |
Dateigröße | 413 KByte |
Seiten | 2303-2304 |
Verleihung der MID-Industriepreise 1999
Jahr | 2000 |
HeftNr | 1 |
Dateigröße | 243 KByte |
Seiten | 74-75 |
Verleihung des EITI-Award 2000
Am 24.11.2000 wurde in der ZVEI-Arena auf der electronica der EITI-Award 2000 verliehen. Der öffentlich ausgeschriebene und mit 10 000 DM dotierte Preis ging an Dipl.-Ing. Joachim Ulbricht, BuS Elektronik, Riesa für die Entwicklung einer innovativen SMD-LED-Vollmatrixanzeige.
Jahr | 2001 |
HeftNr | 1 |
Dateigröße | 120 KByte |
Seiten | 39 |
Verlustwärme elegant abführen
Jahr | 2008 |
HeftNr | 10 |
Dateigröße | 962 KByte |
Seiten | 2138-2143 |
Vernetzt in die Zukunft
Jahr | 2012 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 928 KByte |
Seiten | 1831-1840 |
Vernetzte 3D-Inspektion – ein Beispiel aus der Praxis
Deltec Automotive setzt bei den Prüftechnologien Lotpastenkontrolle (SPI), automatische optische Inspektion (AOI) sowie automatische und manuelle Röntgeninspektion (AXI/MXI) auf die 3D-Systeme von Viscom. In der täglichen Anwendung werden die nutzerfreundlichen Vorteile deutlich sichtbar.
Jahr | 2017 |
HeftNr | 11 |
Dateigröße | 1,284 KByte |
Seiten | 1992-1993 |
Vernetzte Fahrzeuge werden schnell Teil des Internet of Things
Jahr | 2016 |
HeftNr | 10 |
Dateigröße | 623 KByte |
Seiten | 2000-2005 |
Verschiedene Siliziumkarbid-Technologien im direkten Vergleich
Jahr | 2012 |
HeftNr | 10 |
Dateigröße | 644 KByte |
Seiten | 2128-2131 |
Verschmelzung von Elektrizitätswirtschaft und IT – neue Chancen für die Elektronikindustrie
Jahr | 2009 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 294 KByte |
Seiten | 1714-1717 |
Version V17 des EDA-Tools Target 3001! ist erschienen
Jahr | 2014 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 353 KByte |
Seiten | 1663 |
Verstärker halbiert Smartphone-Energieverbrauch
Das US-Start-up-Unternehmen Eta Devices hat einen neuartigen Signalverstärker entwickelt [1]. Mit der neuen Technologie, die zwei MIT (Massachusetts Institute of Technology)-Professoren erfanden, soll sich der Stromverbrauch von Smartphones und Sendestationen für Mobilfunknetze in Zukunft halbieren lassen. Die Technologie soll auf dem Mobile World Congress im Februar 2013 in Barcelona offiziell vorgestellt werden.
Jahr | 2012 |
HeftNr | 12 |
Dateigröße | 767 KByte |
Seiten | 2607-2608 |
Verstärker widersteht Weltraumtemperaturen
Jahr | 2009 |
HeftNr | 4 |
Dateigröße | 270 KByte |
Seiten | 774-775 |
Verteilte Ereigniserkennung in drahtlosen Sensornetzen überwacht Zaun-, Reha- und Sportanwendungen
Jahr | 2012 |
HeftNr | 3 |
Dateigröße | 572 KByte |
Seiten | 629-635 |
Vertical System Integration by Using Inter-Chip Vias and Solid-Liquid Interdiffusion Bonding
Jahr | 2006 |
HeftNr | 10 |
Dateigröße | 439 KByte |
Seiten | 1751-1754 |
Vertikal oder horizontal
Jahr | 2000 |
HeftNr | 1 |
Dateigröße | 186 KByte |
Seiten | 1 |
Vertikale Durchlaufanlage zum Entwickeln, Ätzen, Strippen und Trocknen
Mit dem optimal aufeinander abgestimmten Geräteprogramm der Walter Lemmen GmbH lässt sich der gesamte Fertigungsprozess zur Herstellung von Leiterplatten- und Multilayer-Prototyen bis zur Kleinserie abdecken. So können hochwertige Leiterplatten mit komplexen Strukturen, feinen Leiterplattenbreiten und -abständen auf unterschiedlichen Basismaterialien erzeugt werden.
Jahr | 2015 |
HeftNr | 3 |
Dateigröße | 359 KByte |
Seiten | 470 |
Verwendung von Deckfolien in Verbindung mit flexiblen und starr-flexiblen Leiterplatten
Jahr | 2008 |
HeftNr | 5 |
Dateigröße | 840 KByte |
Seiten | 922-928 |
Verwendung von Flussmitteln beim Durchkontaktieren von Leiterplatten
Jahr | 2016 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 468 KByte |
Seiten | 1693-1694 |
Verwölbungsmessungen unter thermischer Belastung
Jahr | 2009 |
HeftNr | 1 |
Dateigröße | 936 KByte |
Seiten | 170-178 |
VIA electronic – seit 5 Jahren Spezialist für LTCC-Produkte
Jahr | 2003 |
HeftNr | 1 |
Dateigröße | 810 KByte |
Seiten | 132-135 |
VIA startet seinen ersten Vierkernprozessor
Vias in DCB-Substraten für eingebettete Leistungsmodule
Jahr | 2019 |
HeftNr | 3 |
Dateigröße | 2,127 KByte |
Seiten | 411-418 |
Vias und Bohrungen für THT-Bauteile – Hintergründe zur Definition von Padstacks am CAD-System
Mit dem vorliegenden zweiten Beitrag wird die in der PLUS 5/2012 begonnene Artikelserie zum Thema Leiterplattenkonstruktion fortgesetzt. Der erste Artikel setzte sich mit dem Aspekt Ratio für Bohrungen auseinander.
Jahr | 2012 |
HeftNr | 7 |
Dateigröße | 4,514 KByte |
Seiten | 1518-1528 |
Video Development Kit – die Plattform OZ745 vereinfacht das Design von Broadcast-Applikationen
Jahr | 2014 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 712 KByte |
Seiten | 1655-1657 |
Video-Inspektionssystem prüft Bauteile mit vierfacher Full-HD-Auflösung
Das weltweit erste 4K-Ultra-HD-Video-Inspektionssystem stammt von der Berliner TechnoLab. Mit diesem extrem auflösungsstarken Videomikroskop erhöht sich die Darstellungsqualität bei der optischen Prüfung beispielsweise von elektronischen Bauteilen um das Vierfache im Vergleich zu Full HD.
Jahr | 2016 |
HeftNr | 3 |
Dateigröße | 261 KByte |
Seiten | 527 |
Viel ,Potential‘ für Verbesserung im Feldbus
Kommunikationsstörungen durch Potentialunterschiede in CAN-Anlagen werden bisher unterschätzt und bleiben so meist unentdeckt. Wie man diese Fehler erkennt, misst und behebt, zeigt der folgende Beitrag.
Interruptions in the communication of CAN systems caused by potential difference are still underestimated and thus remain often undetected. How to recognise and catch these failures is the topic of the following article.
Jahr | 2014 |
HeftNr | 11 |
Dateigröße | 715 KByte |
Seiten | 2465-2468 |
Viel Bewegung auf dem Markt für Leistungshalbleiter
Bereits für 2011 hatte das Marktforschungsunternehmen IC Insights Inc. vorausgesagt, dass der Markt für Leistungstransistoren im selben Jahr 13,1 Mrd. US$ erreichen wird und damit im Vergleich zu 2010 ein kräftiges Wachstum von 9 % erfährt. Das entspricht 2011 etwa 58,8 Mrd. produzierten Bauteilen. Gegenu?ber 2009 bedeutet das ein Wachstum von 44%.
Jahr | 2012 |
HeftNr | 2 |
Dateigröße | 208 KByte |
Seiten | 299-301 |
Viel Bewegung bei Innoveda: Neues komplettes Designsystem für High-Speed-Leiterplatten und Führungskräftewechsel
Jahr | 2002 |
HeftNr | 5 |
Dateigröße | 261 KByte |
Seiten | 747-748 |
Viel für die Praxis – 5. Technologietag im Schwarzwald zur Baugruppenfertigung in der Elektronik
Jahr | 2015 |
HeftNr | 7 |
Dateigröße | 600 KByte |
Seiten | 1413-1415 |
Viel Licht auf der Straße
Oslon Black Flat heißt die aktuelle LED für Frontscheinwerfer von Osram Opto Semiconductors. Mit modernster Chip- und Gehäusetechnologie und einem Keramikkonverter ausgestattet, zeigt das LED-Produkt aus der Oslon-Black-Series-Reihe seine Stärken auf der Straße: Hohe Lichtleistung auch bei hohen Strömen, homogene Lichtverteilung, Temperaturstabilität und ein besonders gutes Kontrastverhältnis für besseres Sehen und Gesehen werden.
Jahr | 2012 |
HeftNr | 11 |
Dateigröße | 666 KByte |
Seiten | 2478 |
Viel Neues bei den vierten Automotive Days in Jena
Jahr | 2007 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 715 KByte |
Seiten | 1716-1719 |
Viele Augen für viele Aufgaben
Jahr | 2021 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 1,590 KByte |
Seiten | 1023-1026 |
Viele Unternehmen sehen in Regionalisierung eine Gute Sache
Jahr | 2010 |
HeftNr | 6 |
Dateigröße | 492 KByte |
Seiten | 1349 |
Vieles ist Mangelware - vor allem aber motivierte und engagierte Mitarbeiter
Jahr | 2001 |
HeftNr | 6 |
Dateigröße | 151 KByte |
Seiten | 893 |
Vielfalt an Trocknungs- und Aushärtungssystemen für die Elektronikindustrie
Jahr | 2017 |
HeftNr | 4 |
Dateigröße | 2,290 KByte |
Seiten | 697-706 |
Vielseitige AOI-Konfiguration mit hohem Durchsatz
Jahr | 2013 |
HeftNr | 7 |
Dateigröße | 356 KByte |
Seiten | 1486-1487 |
Vielseitige Röntgen-Plattform
Jahr | 2004 |
HeftNr | 10 |
Dateigröße | 248 KByte |
Seiten | 1686-1691 |
Vielseitige Schablonenlösungen
Jahr | 2013 |
HeftNr | 11 |
Dateigröße | 517 KByte |
Seiten | 2437 |
Vielseitige Speicher-Neuheiten für diverse Anwendersegmente
Jahr | 2014 |
HeftNr | 10 |
Dateigröße | 588 KByte |
Seiten | 2095-2096 |
Vielseitige und kompakte Industrie-PCs
Jahr | 2017 |
HeftNr | 3 |
Dateigröße | 664 KByte |
Seiten | 496-497 |
Vielseitiges Design-Tool für Ferritmaterialien
Ein komplett überarbeitetes und mit erweiterten Funktionalitäten für EPCOS Ferrite ausgestattetes Design-Tool präsentiert die TDK Corporation. Die Software ermöglicht es, die Anwendungsparameter für alle Kernformen und Ferritmaterialien, darunter auch neue Werkstoffe für HF-Schaltnetzteile, schnell und einfach zu berechnen sowie grafisch darzustellen.
Jahr | 2020 |
HeftNr | 2 |
Dateigröße | 2,442 KByte |
Seiten | 188-189 |
Vielzahl an Produkten für Leistungselektronik
Jahr | 2019 |
HeftNr | 4 |
Dateigröße | 1,011 KByte |
Seiten | 576-577 |
Viertes LJ-Technologie-Forum – Tipps für kleinste Chips
Jahr | 2015 |
HeftNr | 2 |
Dateigröße | 637 KByte |
Seiten | 291-294 |
VIP 2009 – einzigartige Wissensplattform mit vielen Neuheiten
Jahr | 2010 |
HeftNr | 2 |
Dateigröße | 843 KByte |
Seiten | 367-369 |
VIP 2014 – weit mehr als Test- und Messtechnik
Jahr | 2014 |
HeftNr | 12 |
Dateigröße | 682 KByte |
Seiten | 2626-2628 |
VIP 2015 – IoT mit integrierter Systemdesign-Plattform gestalten
Der 20. Technologie- und Anwenderkongress ,Virtuelle Instrumente in der Praxis – VIP 2015' verzeichnete mit rund 800 Teilnehmern, über 40 Ausstellern und über 70 Vorträgen neue Rekordzahlen. Dieser Erfolg ist ein Spiegelbild der weiter zunehmenden Attraktivität dieses Branchenevents.
Jahr | 2015 |
HeftNr | 12 |
Dateigröße | 1,040 KByte |
Seiten | 2519-2523 |
VIP 2016 – Technologie für zukünftige Innovationen
Der von National Instruments veranstaltete Kongress ,Virtuelle Instrumente in der Praxis 2016' (VIP 2016) war wieder eine günstige Plattform zum Austausch über neue Entwicklungen und Herausforderungen. Diesmal standen neben messtechnischen Lösungen das industrielle Internet der Dinge und Big Data im Blickpunkt.
Jahr | 2017 |
HeftNr | 1 |
Dateigröße | 1,509 KByte |
Seiten | 126-128 |
VIP 2017 – Plattform und Ökosystem für Zukunftsthemen
Der 22. Technologie- und Anwenderkongress ,Virtuelle Instrumente in der Praxis – VIP 2017‘ war mit über 700 Teilnehmern (ein neuer Rekord), über 40 Ausstellern und über 70 Vorträgen wieder sehr erfolgreich.
Jahr | 2017 |
HeftNr | 12 |
Dateigröße | 3,561 KByte |
Seiten | 2168-2170 |
VirtualChip Exchange-einelektronischer Marktplatz und Internet-basierende Beschaffung^1
Jahr | 2001 |
HeftNr | 1 |
Dateigröße | 391 KByte |
Seiten | 142-144 |
Virtuelle Realität auf Smartphones mit 3D-Bildsensorchip
Drei auf der CES 2016 vorgestellte, neue 3D-Bildsensorchips der REAL3-Serie von Infineon und pmdtechnologies haben es in sich. Mit diesen kann man nun auf mobilen Endgeräten die visuelle Umgebung dreidimensional erfassen – und das schnell und realitätsnah.
Jahr | 2016 |
HeftNr | 2 |
Dateigröße | 351 KByte |
Seiten | 231-232 |
Virtuelle Thermographie von Leiterbahnen und Leiterplatten
Jahr | 2013 |
HeftNr | 3 |
Dateigröße | 1,240 KByte |
Seiten | 471 |
Virtuelle Thermographie von Leiterbahnen und Leiterplatten
Im ersten Teil dieser kleinen Serie (PLUS 3/2013, S. 471-479) wurden einige Grundbegriffe und physikalische Konzepte der Elektronikkühlung zusammengestellt und Hotspots mit 3D-Simulationen und physikalischen Faustformeln untersucht. Im folgenden zweiten Teil geht es um den Stromfluss und die Stromheizung in Leiterbahnen.
Jahr | 2013 |
HeftNr | 4 |
Dateigröße | 1,137 KByte |
Seiten | 734 |
Virtuelle Thermographie von Leiterbahnen und Leiterplatten
Jahr | 2013 |
HeftNr | 5 |
Dateigröße | 961 KByte |
Seiten | 970-974 |
Virtuelles Armaturenbrett macht PC-Stromverbrauch sichtbar
Jahr | 2009 |
HeftNr | 7 |
Dateigröße | 159 KByte |
Seiten | 1630-1631 |
Viscom AG: ein ganzes Feuerwerk an Neuheiten
Jahr | 2001 |
HeftNr | 11 |
Dateigröße | 492 KByte |
Seiten | 1946-1949 |
Viscom feiert – 30 Jahre Inspektion und 30 Jahre Erfolg
Jahr | 2014 |
HeftNr | 6 |
Dateigröße | 341 KByte |
Seiten | 1277 |
Viscom firmiert ab sofort als Aktiengesellschaft
Einer der führenden europäischen Anbieter für optische Inspektionssysteme setzt technologische Maßstäbe in der Qualitälskontrolle - Profitabilität und weltweit einmalige Position als Basis für weiteres Wachstum.//
Technological quality control standards are set by Viscom, a leading European manufacturer of optical inspection systems - profitability and a unique worldwide position is a solid basis for further growth.
Jahr | 2001 |
HeftNr | 10 |
Dateigröße | 377 KByte |
Seiten | 1727-1729 |
Viscom mit neuem AOI-System S3088-III
Jahr | 2010 |
HeftNr | 1 |
Dateigröße | 164 KByte |
Seiten | 139 |
Viscom stellte die neuen AOI-Features der SI-Software-Release 7.45 vor
Viscom bietet in seiner Software viele nützliche Zusatzfunktionen, die den Einsatz von AOI- und AXI-Systemen schneller und komfortabler gestalten. Mit der neuen SI-Release 7.45 sind noch einmal jede Menge Features hinzugekommen. Die Highlights sind: Die verbesserte Findung der Bauteilkörper bei SOTs, die neue Farbringprüfung von Widerstandswerten, eine weiter vereinfachte Schrifterkennung (TopOCR) und die neue Lotperlenprüfung.
Jahr | 2012 |
HeftNr | 7 |
Dateigröße | 562 KByte |
Seiten | 1594 |
VISCOM Technologie Forum
Am 2./3. März 2005 trafen sich insgesamt ca. 150 Anwender und Interessenten zum VISCOM Technolo- gie Forum in Hannover. Bei dieser Veranstaltung wurden AOI- und AXI-Anwendungen in der Elektro- nik diskutiert und die entsprechenden VISCOM Produkte demonstriert. Zudem wurden interessante Ein- blicke in andere Bildverarbeitungsanwendungen gegeben.
Jahr | 2005 |
HeftNr | 5 |
Dateigröße | 1,019 KByte |
Seiten | 852-855 |
Viscom Technologie-Forum 2009
Jahr | 2009 |
HeftNr | 5 |
Dateigröße | 909 KByte |
Seiten | 1088-1091 |
Viscom Technologie-Forum und Anwendertreffen 2010 mit überraschend guter Resonanz und Prognose
Am 14. und 15. April 2010 haben sich insgesamt knapp zweihundert Besucher bei der Viscom AG in Hannover an der inzwischen schon traditionellen Veranstaltung eingefunden, bei der neben aktuellen Themen aus dem Anwendungsumfeld auch über Neu- und Weiterentwicklungen sowie Details der Viscom-Produkte informiert wurde.
Jahr | 2010 |
HeftNr | 7 |
Dateigröße | 781 KByte |
Seiten | 1571-1574 |
Viscom Technologieforum und Anwendertreffen 2011
Jahr | 2011 |
HeftNr | 6 |
Dateigröße | 481 KByte |
Seiten | 1344-1347 |
Viscom weihte neue Gebäude ein - ein weiterer Meilenstein einer Erfolgsgeschichte
Am 10. Juni 2002 fand die Einweihungsfeier der neuen Unternehmenszentrale und der dritten Fertigungshalle der Viscom AG, Hannover, statt. Welche Bedeutung der seit 18Jahren agierende Inspektionssystemhersteller inzwischen hat, zeigte u. a. die Teilnahme von Sigmar Gabriel, dem Ministerpräsidenten des Landes Niedersachsen an der Feier.
Jahr | 2002 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 519 KByte |
Seiten | 1337-1340 |
Viscom „QuickScan“ für alle Standardanforderungen der Baugruppeninspektion
Die Viscom Systemfamilie C3043 QuickScan ergänzt den mittleren Bereich der optischen Baugruppenprüfsysteme. Das industrietauglich ausgelegte System ist mit vereinfachter Sensorik ausgestattet und erfüllt alte Standardanforderungen der optischen Baugruppenprüfung - zu einem günstigen Preis.
Jahr | 2002 |
HeftNr | 3 |
Dateigröße | 125 KByte |
Seiten | 498 |
Viscoms Technologie-Forum und Anwendertreffen 2014 war etwas Besonderes
Jahr | 2014 |
HeftNr | 7 |
Dateigröße | 834 KByte |
Seiten | 1499-1503 |