Das Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM in Berlin hat seine Institutsleitung erweitert: Seit dem 1. August 2024 leitet Frau Prof. Ulrike Ganesh gemeinsam mit Herrn Prof. Martin Schneider-Ramelow das IZM. Gemeinsam werden sie die strategische Ausrichtung weiterentwickeln.
Frau Prof. Ganesh bringt ihre Erfahrung aus langjähriger Forschungstätigkeit auf dem Gebiet der Charakterisierung und Fehleranalyse von Halbleitertechnologien mit. Ihre Karriere begann sie als Postdoc bei IBM in New York. Danach verantwortete sie die Forschung in der Fehleranalyse bei Qualcomm in San Diego. Ihre Managementerfahrungen baute Prof. Ganesh in der Automotive-Chipentwicklung bei dem Unternehmen Robert Bosch aus.
Zuletzt leitete sie bei der Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung die Abteilung ‚Zerstörungsfreie Prüfung‘. Mit ihren sich ergänzenden Kompetenzen will die neue Doppelspitze die Herausforderungen der Mikroelektronikforschung erfolgreich meistern.
