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Die ICI (Inline Computational Imaging)-Mikroskopie eignet sich für eine hochgenaue Oberflächeninspektion z.B. in der Leiterplattenproduktion, insbesondere wenn die Auflösung sich im µm-Bereich bewegt oder die Objekte die Prüfstelle schnell durchlaufen. Das Austrian Institute of Technology (AIT) hat dazu ein Inline-3D-Mikroskop entwickelt.