Eugen G. Leuze Verlag KG
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Dokumente

25 Jahre TZO Leipzig GmbH

Am 1. Dezember 2017 beging die Technologie-Zentrum für Oberflächentechnik und Umweltschutz Leipzig GmbH (TZO Leipzig GmbH) mit 180 Mitarbeitern und Gästen ihr 25-jähriges Bestehen.

 

Jahr2018
HeftNr2
Dateigröße1,188 KByte
Seiten272-273

VW und BASF vergeben Wissenschaftspreis für Elektrochemie

Der renommierte Wissenschaftspreis der beiden Unternehmen unterstützt herausragende natur- und ingenieur- wissenschaftliche Leistungen und möchte Impulse für die Entwicklung von leistungsfähigen Energiespeichern geben. Er wird seit 2012 jährlich ausgeschrieben, wobei das Preisgeld 100000 Euro beträgt. 2017 ging er an Dr. Jennifer Rupp und Dr. Stafford Sheehan. Die Übergabezeremonie fand Anfang Dezember im Karlsruher Institut für ...
Jahr2018
HeftNr2
Dateigröße4,475 KByte
Seiten269-271

ZVO Oberflächentage 2017 (Teil 6)

Zusammenfassung verschiedener Vorträge

Legierungsschichten
(Vortragsblock des ZVO-/DGO-AK ZnNi)
Vortragsblock Verschleißschutz
Von der Prozessüberwachung zur Produktqualität
Auffahrunfälle

 

Jahr2018
HeftNr2
Dateigröße2,190 KByte
Seiten264-268

Nutzung der instrumentierten Eindringprüfung zur Berechnung der Duktilität von Palladium- Nickel-Schichten (Teil 2)


Härte und Duktilität sind wichtige mechanische Größen, um die Eigenschaften galvanischer Schichten zu charakterisieren. Die Härte gilt dabei als Maß für die Abrasionsverschleiß- und Abriebbeständigkeit einer Schicht, während die Duktilität die Eigenschaft der plastischen Verformbarkeit eines Werk- stücks widergibt. Die wichtigsten Messverfahren zur Bestimmung der Härte sind die nach Vickers (HV), Knoop (HK), Martens (HM) sowie ...
Jahr2018
HeftNr2
Dateigröße4,396 KByte
Seiten253-263

Regeneration of Process Solutions and Purification of Water in Reclaim Tanks through Immersed Electrochemical Modules

Immersed electrochemical module (IEM) is an elec- trochemical half-cell with one or two ion-exchange membranes and an inner electrode. IEM is immersed directly into a tank with a process solution in order to produce certain changes in its composition, for exam- ple, to recover nickel ions from spent electroless nick- el plating solutions. Another area of application is to maintain the stable composition of process solutions such as various ...
Jahr2018
HeftNr2
Dateigröße1,320 KByte
Seiten246-252

Elektrolytische Gallium-Abscheidung als Recyclingtechnologie


Gallium wird in Form von verschiedenen Verbindungen überwiegend für die Herstellung von Solarzellen, Leuchtdioden, Transistoren und anderen Elektronikbauteilen benötigt. In der kontinentalen Erdkruste findet sich Gallium mit einem Gehalt von 19 ppm ähnlich selten wie Blei. Es kommt nur als geringe Beimischung in Aluminium-, Zink- oder Germaniumerzen vor (maxi- mal 0,01 % in Bauxit und Zinkblende, max. 1 % in Germanit) und wird als ...
Jahr2018
HeftNr2
Dateigröße4,022 KByte
Seiten238-245

Die EU-Verordnung 2017/821: Verantwortliches Gold aus verlässlichen Quellen

Im Mai 2017 hat die EU mit der Verordnung 2017/821 den vorläufigen Höhepunkt in der Etablierung von transparenten und verlässlichen Goldlieferketten gesetzt. Damit werden bereits vorhandene Bemühungen der Goldindustrie nach einer verantwortungsvollen Beschaffung von Gold als Rohstoff nach einer Übergangszeit nun auch rechtlich verpflichtend. Diese Verordnung kann als Abschluss internationaler Aktivitäten gesehen werden. Ziel ist, dem ...
Jahr2018
HeftNr2
Dateigröße4,235 KByte
Seiten231-237

Dispersionsschichten

Dieses Kapitel gibt einen kurzen Überblick über die Grundlagen und Anwendungen der galvanischen Dispersionsabscheidung. Bei Dispersionsschichten handelt es sich um galvanische Überzüge, in die inerte Partikel während der Abscheidung eingelagert werden. Hierbei kann es sich um unterschiedlichste Partikeltypen, von hartem Diamant bis zu weichem PTFE, handeln. Die Größenskala der Partikel reicht von Makro (Millimeter) über Mikro bis hin ...
Jahr2018
HeftNr2
Dateigröße4,625 KByte
Seiten213-230

Aktuelles 02/2018

Neues aus der Fachwelt
Aus den Unternehmen
Wichtiges in Kürze
Tagungen, Ausbildungen, Fachmessen

Jahr2018
HeftNr2
Dateigröße1,630 KByte
Seiten201-212

Die Rohstoffgewinnung wird schmutziger – in jeder Hinsicht

In einem Hightech-Produkt wie beispielsweise einem Smartphone oder einem Computer stecken bis zu 60 verschiedene
chemische Elemente, davon sind rund 30 Metalle. Kupfer
ist dabei, aber auch Zink, Nickel, Tantal – und Edelmetalle
wie Gold und Silber. Da die meisten der Industrienationen,
die Highend-Produkte herstellen, nicht über die genann-
ten Vorkommen verfügen, kaufen sie sie bei jenen, die die
entsprechenden Bodenschätze ...
Jahr2018
HeftNr2
Dateigröße989 KByte
Seiten181

Galvano-Referate 06/1998

Fachzeitschriften aus aller Welt... für Sie gesichtet!

Jahr1998
HeftNr6
Dateigröße2,713 KByte
Seiten2095-2106

Maschinen- und Prozeßfähigkeit in der Mikrotechnologie


Seminar von IBMG, lET der TU Dresden und CYBERTRON Die Fertigungsprozesse für Elektronikbaugruppen unterliegen vielen Einflüssen. Deutliche Auswirkungen auf Ausbeuten und Kosten sind vorhanden. Die Eigenschaften der verwendeten Maschinen wirken sich naturgegeben besonders stark aus. Eine Erfassung und Bewertung ihrer Qualität in Form einer Maschinenfähigkeitsuntersuchung ist eine günstige Möglichkeit, zu aussagekräftigen Kenn- ...
Jahr1998
HeftNr6
Dateigröße715 KByte
Seiten2084-2086

Brief aus Japan 06/1998

Leiterplattenindustrie nach der Asienkrise Die gegenwärtigen ökonomischen Probleme im asiatisch-pazifischen Raum beginnen sich auf andere Teile der Welt auszuwirken. Die geringeren Ausgaben in Südostasien haben die Exporte dorthin aus allen Ländern gedrosselt. In Thailand und Südkorea geht es der Wirtschaft dank der gewaltigen Anstrengungen dieser Länder und der Hilfe des IWF wieder besser. Indonesien scheint die Pillen ...
Jahr1998
HeftNr6
Dateigröße502 KByte
Seiten2082-2083

Streiflichter von der IPC Printed Circuit Expo 1998

Die IPC Expo, die in diesem Jahr in Long Beach/Kalifornien stattfand, war wiederum eine überaus erfolgreiche Veranstaltung. Mehr als 7000 Fachbesucherzeigten sich interessierten bestehender und neuer Technologie. Eine Fülle fachlich hochstehen- der und gesellschaftlicher Veranstaltungen, wie Presidents meeting mit Roundtabie Discussions, Fachvorträge sowie Tutorials und Workshops, in- formierten über Neueentwicklungen und Trends der ...
Jahr1998
HeftNr6
Dateigröße187 KByte
Seiten2081

Testen von Elektronikbaugruppen mit begrenzter Zugänglichkeit

Bericht über ein Seminar mit Produktvorstellung der Hewlett Packard GmbH am 27. März 1998 in Taufkirchen Auch die modernsten Elektronikbaugruppen müssen zur Qualitätssicherung nach dem Montageprozeß getestet werden. Mittels In- Circuit-Test können in der Produktion Montage- und andere Baugruppenfehler mit großer Sicherheit entdeckt und lokalisiert werden. In der Vergangenheit mußten für den In-Circuit- Test alle ...
Jahr1998
HeftNr6
Dateigröße495 KByte
Seiten2079-2080

Aus Umsatzrückgang soll mehr als 10 Prozent Wachstum werden

Bilanzpressekonferenz der Schweizer Electronic AG am 12. Mai 1998 in Stuttgart 1997 war für die Schweizer Electonic AG in Schramberg ein schwieriges Geschäftsjahr. Trotz weit- und europaweiter Umsatzsteigerungen in der Größenordnung von etwa 7 Prozent sank in 1997 der Umsatz in Schramberg von 179 Mio. DM in 1997 auf 165 Mio. DM. Gelitten hat vor allem das Inlandsgeschäft, das um 10 % unter dem Vorjahreswert lag, während der ...
Jahr1998
HeftNr6
Dateigröße468 KByte
Seiten2077-2078

VDE-Trendanalyse Mikroelektronik ‘98

Prognose für Weltmarkt und Techniktrends

Die Hannover Messe ist für den Verband Deutscher Elektrotechniker VDE jährlich Anlaß für eine Darlegung seiner Prognose für den Weltmarkt und Technologietrends der Mikroelektronik vor der Presse. Rede und Antwort standen VDE-Generalsekretär Dr.-Ing. F.D. Alt- hoff, Pressereferent Dr. W. Börmann und R.-J. Brüß, Senior Vice President Siemens Semiconductor.

 

Jahr1998
HeftNr6
Dateigröße474 KByte
Seiten2075-2076

Verarbeitungstechniken für die Flip-Chip-,BGA- und CSP-Montage – Teil 2

Symposium der Electronic Forum GmbH am 23./24. April 1998 Die neu entwickelten Bauformen und Packagingtechnologien stellen neue Herausforderungen an die Verarbeitungstechniken aber auch an die Leiterplattentechnik. Leiterplattenbaugruppen werden kleiner, flacher und höher integriert. Die derzeitigen Verarbeitungsmöglichkeiten von Flipchips, BGA und CSP sowie die Entwicklungstendenzen wurden am 23. und 24. April in Waiblingen ...
Jahr1998
HeftNr6
Dateigröße1,059 KByte
Seiten2070-2074

Der Einsatz von Basismaterial aus PTFE/Glasgewebe

Es ist doch erstaunlich, in der Leiterplattenbranche häufig Aussagen wie folgt zu hören: „Wir setzen kein TefIon®-Basismaterialein,da dieses nur sehr schwierig zu verarbeiten ist“; „Wenn Teflon®-Basismaterial wie FR4 zu verarbeiten wäre, dann „Die Oberflächenaufbereitung von Teflon®-Basismaterial ist zu kompliziert, zu teuer, zu unhandlich, zu „PTFE-Laminate sind zu teuer“; „Wir haben keine spezielle Linie für ...
Jahr1998
HeftNr6
Dateigröße1,082 KByte
Seiten2065-2069

Einfluß der Lötstoppmaske auf die Qualität von bestückten Leiterplatten

Zusammenfassung Der Einfluß der Lötstoppmasken auf die Qualität von bestückten Baugruppen wird gerade von den Bestückern in letzter Zeit zunehmend erkannt. Phänomene wie ionische Restverunreinigung oder niedriger Oberflächenwider- stand sowie schlechte Schutzlackhaftung und Bondbarkeit hängen in starkem Maße mit der Qualität der Lötstoppmaske zusammen. Dieser Artikel zeigt verschiedene typische Probleme auf, die mit ...
Jahr1998
HeftNr6
Dateigröße788 KByte
Seiten2061-2064

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