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Dokumente

Metallographische Untersuchungen an Sn8Zn3Bi-Lötverbindungen

Im Zeitalter der bleifreien Elektronikfertigung zählen Sn-Zn-Basislegierungen heute zu den attraktivsten Ersatzmaterialien für das in der Vergangenheit hauptsächlich verwendete Sn-Pb-Lot. Gerade deren vergleichbar geringe Kosten und der niedrige eutektische Schmelzpunkt von 198,5 °C verhelfen diesem Lotwerkstoff zu großem Interesse bei Elektronikherstellern. Seit nunmehr über zwei Jahrzehnten wird versucht, die mangelnde ...
Jahr2011
HeftNr10
Dateigröße452 KByte
Seiten2378-2384

Cu-Ball/Wedge-Bonden: Entwicklung und Status 2011 (Teil 3)

Seit den ersten Veröffentlichungen zum Cu-Ball/ Wedge(B/W)-Drahtbonden in den 1980er Jahren tauchten stetig bis ins letzte Jahrzehnt viele Veröffentlichungen zu diesem Thema auf, ohne dass sich der Einsatz von Kupfer beim B/W-Bonden industriell nennenswert durchsetzen konnten. Erst der heftige Preisanstieg für Gold und gerätetechnische Weiterentwicklungen sowie ein verbessertes Verständnis für den Kupferdrahtbondprozess verhalfen dem ...
Jahr2011
HeftNr10
Dateigröße879 KByte
Seiten2385-2399

Hochfrequenzforschung unter der Kugel: Ein Besuch der Großradaranlage des Fraunhofer FHR

Bericht zur Veranstaltung der RG Düsseldorf in Wachtberg bei Bonn am 18. August 2011

Jahr2011
HeftNr10
Dateigröße486 KByte
Seiten2401-2404

1. Treffen des FED-Arbeitskreises Umweltgesetzgebung

Am 30.8.2011 traf sich der aus dem Arbeitskreis REACh hervorgegangene und neu formierte FED-Arbeitskreis Umweltgesetzgebung in den Räumlichkeiten der alpha-board gmbh, Berlin. Der neue Arbeitskreis hat sich als Aufgabe gestellt, neben der Eigeninformation Wissen zu den nationalen und europäischen Umweltgesetzen und -richtlinien zusammenzutragen und Interessierten zur Verfügung zu stellen. Beim ersten Treffen standen die Änderungen der ...
Jahr2011
HeftNr10
Dateigröße198 KByte
Seiten2405-2407

uBeam verspricht kabellose Stromversorgung

Die 22-jährige Studentin Meredith Perry von der University of Pennysylvania hat mit uBeam eine Methode entwickelt, die den Betrieb von Elektronik ganz ohne Stromkabel ermöglicht.

Jahr2011
HeftNr10
Dateigröße175 KByte
Seiten2408

Steckverbinder – Anwender sprechen mit Herstellern

Bericht über den fünften Anwendungskongress Steckverbinder

Jahr2011
HeftNr9
Dateigröße162 KByte
Seiten1951-1953

Renesas ist wieder auf Kurs

Von der verheerenden Katastrophe in Japan hat sich Renesas Electronics mit großem Tempo wieder weitgehend erholt. Das stark in Mitleidenschaft gezogene Unternehmen musste acht Chip-Fabriken und bedingt durch die Stromausfälle auch acht Büros zeitweilig schließen. Um Produktionsausfälle besser zu kompensieren, griff der Halbleiterhersteller auf firmeninterne Strategien und auf die Foundries Global Foundries und TSMC zurück.

Jahr2011
HeftNr9
Dateigröße498 KByte
Seiten1954-1958

STMicroelectronics: Stromversorgungslösungen für die Photovoltaik

Auf dem wachstumsverwöhnten Photovoltaikmarkt wird der internationale Wettbewerb härter und zwingt die Hersteller zu Innovationen und Preisanpassungen bei den Systemkomponenten. Eine der Schlüsselkomponenten sind Solarwechselrichter. Das hat auch STMicroelectronics erkannt und verspricht beachtliches Optimierungspotential.

Jahr2011
HeftNr9
Dateigröße496 KByte
Seiten1959-1963

Datenmanagement im Elektronikdesign

Viele Unternehmen haben kontinuierlich in umfassende Softwarelösungen investiert, um eine unternehmensweite Produktentwicklungsumgebung aufzubauen. Diese Product Lifecycle Management (PLM) genannten Lösungen ermöglichen den Umstieg auf einen zentralisierteren und durchgängigeren Produktentwicklungsprozess. Insbesondere haben sie die Ausführung auf eine Linie mit der übergeordneten Unternehmensstrategie gebracht. Obwohl dieser Ansatz den ...
Jahr2011
HeftNr9
Dateigröße401 KByte
Seiten1967-1971

Forschungsprojekt RELY: Neue Wege bei der Chipentwicklung

Die deutschen Außenhandelserfolge werden immer mehr durch die Qualität und Zuverlässigkeit von Hochtechnologieprodukten bestimmt. Gemeinsam wollen sieben Partner aus der deutschen Wirtschaft und Forschung in den kommenden drei Jahren im Projekt RELY erforschen, wie sich Qualität, Zuverlässigkeit und Belastbarkeit moderner Mikroelektroniksysteme erhöhen lassen.

Jahr2011
HeftNr9
Dateigröße123 KByte
Seiten1972

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