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Expertise aus Industrie und Forschung zusammenbringen, um gemeinsam ein standardisiertes Regelwerk für die OCT zu veröffentlichen und so in Zukunft den Weg für weitere OCT-Anwendungsfelder zu eröffnen – das ist das Ziel des Fachausschusses 8.19 »Optische Kohärenztomographie« der GMA. Denn bisher wurde das vergleichsweise neue Messverfahren noch nicht allgemeingültig beschrieben, verschiedene Verfahren und Leistungsmerkmale noch nicht standardisiert. Damit ist die Vergleichbarkeit verschiedener OCT-Systeme noch nicht gegeben und eine stärkere Verbreitung eingeschränkt. Das soll sich durch die Richtlinienarbeit des Fachausschusses ändern: »Das Wissen um und das Vertrauen in die OCT sollen durch ein allgemeines technisches Regelwerk gefördert werden. Dafür haben wir nun in einem ersten Schritt Begriffe und Messverfahren für Leistungskenngrößen definiert und typische Verfahrensvarianten beschrieben«, erklärt Niels König, Leiter der Abteilung Produktionsmesstechnik am Fraunhofer IPT und Vorsitzender des Fachausschusses.
Berührungslose und hochaufgelöste Bildgebung – von der Biomedizin bis in die Industrie
Ursprünglich in der Augenheilkunde angewendet, ist die OCT ein auf kurzkohärenter Interferometrie basierendes Messverfahren zur berührungslosen und hochaufgelösten Darstellung tomographischer Schnittbilder. Es hat eine Eindringtiefe von mehreren Millimetern und ein Auflösungsvermögen im einstelligen Mikrometerbereich. In der medizinischen Diagnostik lässt sich mit der OCT organisches Gewebe, wie zum Beispiel Tumorgewebe in einem sehr frühen Krankheitsstadium untersuchen, entweder intraoperativ oder in-vitro. Aber auch in der Industrie wird die OCT dank ihrer universellen Eigenschaften in der Material- und Defektprüfung, zum Beispiel bei Kunststoffprodukten eingesetzt. Bei undurchsichtigen Werkstoffen, in die das Licht nicht eindringen kann, zum Beispiel Metall, kommt die OCT zur Oberflächen- und Abstandsmessung zum Einsatz.
Nun liegen erste Arbeitsergebnisse des neuen Fachausschusses zur OCT in Form des Richtlinienentwurfs VDI/VDE 5565 Blatt 1 vor. Der Entwurf beschreibt die OCT-Verfahren und legt die dazu erforderlichen Begriffe fest. Um möglichst die gesamte OCT-Community zu erreichen, wurde der Entwurf bereits zweisprachig in Deutsch und Englisch veröffentlicht. Der Entwurf kann bis zum 31.07.2022 per Einspruch kommentiert werden. Nach der Behandlung der Einsprüche wird dann die gültige Richtlinie veröffentlicht. An VDI/VDE 5565 Blatt 2 zum Thema »Signalverarbeitung und Datenauswertung« wird im Ausschuss bereits gearbeitet. Die messtechnische Charakterisierung von OCT-Systemen steht für weitere Richtlinienprojekte auf der Roadmap.
