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Mit einer Laseranwendung fing alles an. Weil der Kunde kein eigenes Lasersystem kaufen aber eine maßgeschneiderte Lösung haben wollte, wurde die erste lasergeschnittene Druckschablone in Deutschland aus der Taufe gehoben. Damit begann nicht nur die Geburtsstunde sondern auch die Erfolgsgeschichte von LaserJob, die bis heute anhält. Flankiert wird dieser Pioniergeist von Patchwork und Nanowork – zwei maßgeblichen Entwicklungen, die das Unternehmen zum Innovationstreiber machen.

Die zu den weltweit führenden Herstellern von Inspektions- und Testsystemen für Elektronikbaugruppen zäh- lende Test Research, Inc. (TRI) veranstaltete am 19. und 20. April 2012 in ihrem Werk im Hwa Ya Technologiepark bei Taipeh, Taiwan, erstmals eine Global Partner Conference. Dort wurde über die Strategie und Entwicklung von TRI informiert sowie zahlreiche neue Produkte vorgestellt.

Immer dann, wenn die Verbindungen zwischen Leiter- platten und elektronischen Bauteilen großem Stress ausgesetzt werden, können in den Baugruppen Funktionsprobleme entstehen. Entwickler und Hersteller müssen wissen, wie diese mechanischen Spannungen zu messen sind. Dann können sie ermitteln, ob Teile einem so großen Stress unterworfen werden, dass Aus- wirkungen auf die Zuverlässigkeit zu erwarten sind. Es ist jedoch nicht einfach, den Stress nach einheitlichen Verfahren zu messen, wenn beispielsweise EMS-Dienstleister und OEM versuchen, maximale Stresswerte festzulegen.

In der Elektronikfertigung ist beim Wellen- beziehungsweise Selektivlötprozess auf Grund der steigenden Metallpreisentwicklung ein verstärkter Trend zur Substitution von hoch silberhaltigen SAC305- und SAC387-Loten zu niedrig silberlegierten bis hin zu silberfreien Loten zu verzeichnen.

Parallel zur diesjährigen SMT fand am 8. Mai 2012 in Nürnberg der Workshop Drucktechnologien in der Elektronikfertigung – heute und morgen statt, der von maris TechCon, Fraunhofer IZM mit Unterstützung der mesago Messe Frankfurt organisiert und durch Prof. Emil List, TU Graz und wissenschaftlicher Leiter der NanoTech Center Weiz GmbH, wissenschaftlich begleitet wurde.

Um Material- und Prozessverträglichkeiten in der Elektronikindustrie leichter prüfen oder nachweisen zu können, hat der IPC das Dokument IPC-9203 Users Guide to IPC-9202 and the IPC-B-52 Standard Test Vehicle heraus gegeben.

Durchkontaktierungen in mehrlagigen Leiterplatten werden hohen thermischen Belastungen im Fertigungsprozess und im Feldeinsatz ausgesetzt. Die Ursache hierfür ist ein, im Vergleich zu Kupfer, signifikant größerer thermischer Ausdehnungskoeffizient des Epoxidharzbasismaterials in Dickenrichtung. Für die Bewertung der Zuverlässigkeit der Durchkontaktierung ist die Kenntnis der Materialeigenschaften der galvanisch abgeschiedenen Kupferschicht von größter Bedeutung. In diesem Artikel wird die Langlochprobentechnik als neue Herstellungsmethode von Zugversuchsproben vorgestellt. Mit der einfachen und kostengünstigen Methode werden erstmalig Spannungs-Dehnungs-Kurven von Kupferschichten generiert, die ähnliche Abscheideverhältnisse und Rauheitsprofile aufweisen wie die Schichten innerhalb der Durchkontaktierung. Die Methode ist ohne zusätzlichen Material- und Kostenaufwand in die Leiterplattenserienfertigung integrierbar und eignet sich besonders zur Inline-Prozesskontrolle der Galvaniken. An den folienartigen Proben wurden Zugversuche im Temperaturbereich von 20 °C bis 140 °C erfolgreich durchgeführt. Die Materialdaten werden mit Zugproben, die auf der Oberfläche eines FR4-Substrats abgeschieden wurden, verglichen.

Erinnern Sie sich noch an das letzte Jahr? Nach einem fulminanten 1. Halbjahr 2011 brach ab Juli der Auftragseingang ein. Die Optimisten sprachen vom Sommerloch – aber nur bis September. Dann war auch dem Letzten klargeworden, dass das 2. Halbjahr 2011 flau wird. Abbau von Schichten, Verabschiedung von Leiharbeitern, Ausfahren der Arbeitszeitkonten und ähnliches waren die Maßnahmen zur Kapazitätsanpassung. Die Spuren finden sich in den Ergebnissen des 4. Quartals bei börsen- notierten Firmen wieder.

Das britische Unternehmen Jake Dyson hat auf der New York Design Week 2012 eine LED-Tischlampe präsentiert, die bei normaler Nutzung 37 Jahre lang Licht spenden soll. Die Entwickler nennen sie auf Englisch CSYS LED task light. Erreicht wird die sehr lange Lebensdauer durch ein Kühlsystem, das die Lebensdauer der Dioden und weiteren elektronischen Bestandteile enorm verlängert. Fachleute halten eine solche Laufzeit theoretisch für machbar und sehen darin einen beginnenden Umbruch im Leuchtendesign.

Die japanischen Elektronikfirmen sind für ihre hohe Neuerungsrate und für den Einbau von immer mehr Funktionen in ihre Kommunikationstechnik wie Handys und Smartphones bekannt. Nachfolgend werden dafür zwei Beispiele vorgestellt, die im Mai beziehungsweise Juni dieses Jahres von den Firmen veröffentlicht wurden.