Eugen G. Leuze Verlag KG
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Dokumente

Steckverbinder in neuen funktionalen Varianten für sehr schnellen Datentransfer und Automation

Als unumgängliches mechanisches Bindeglied im Makroformat und systemische Schwachstelle der Gerätekonfiguration erfordern sie ständige funktionale Erweiterungen und applikative Anpassungen. Entsprechend schnell ist der Fluss der Innovationen und Spezialisierungen bezogen auf die Anwendungsfelder und deren (steigende) Anforderungen. Hier eine Auswahl der neuesten Typen, mit Schwerpunkt auf die High-Speed-Datenübertragung und die ...
Jahr2016
HeftNr8
Dateigröße674 KByte
Seiten1447-1451

Aktuelles 08/2016

Infineon – Cyber-Sicherheit, Fahrerassistenzsysteme mit Radarchips, Übernahme von Wolfspeed geplant PCIM-Europe 2016 verzeichnet Besucherplus und hohe Ausstellerzufriedenheit EMS-Dienstleister beflex electronic fertigt hochintegrierte Boards Dätwyler übernimmt britischen Elektronik- großhändler Premier Farnell ILA-Nachlese 2016 – Heimspiel für EMS-Dienstleister auf lukrativem Feld Würth ...
Jahr2016
HeftNr8
Dateigröße1,891 KByte
Seiten1421-1437

Erfolgreiches Technologiedesign folgt der Funktion und achtet auf Zeit sowie Kosten

„Designer entwickeln Visionen, Planer Ordnungssysteme", so der Jurist, Marketingleiter, Kommunikationsmanager Dr. Fritz P. Rinnhofer. Eine klare Aussage zunächst. Von Visionen können zwar global vereinnahmende Produkte entstehen – die kalifornische IT-Industrie hat das entsprechend vorgelebt und realisiert. Oft verharren jedoch gute Ideen im visionären Zustand, weil diese sich nicht zu tragbaren Kosten realisieren lassen und somit für ...
Jahr2016
HeftNr8
Dateigröße346 KByte
Seiten1417

Soft Skills entscheiden über Karriere

Viele Studierende und Nachwuchs-Führungskräfte denken noch immer, dass es bei der Karriere vor allem auf die fachliche Kompetenz – die Hard Skills – ankommt. Deshalb werden oft die so genannten Soft Skills vernachlässigt. Aber genau diese weichen Faktoren werden zunehmend wichtiger und sind inzwischen zu entscheidenden Karrierefaktoren geworden. Fach- und Führungskräfte mit höheren Ambitionen, die sich hier frühzeitig ...
Jahr2006
HeftNr10
Dateigröße84 KByte
Seiten1772-1774

Lead-Free Soldering Books

The following reviews are giving more than only an actual overview on the reviewed books as they are including comments. Additionally the favoured technological handbooks of the author are listed. The reviewed only English language books are not available from Bob Willis or from the SMART Group. // Die nachfolgenden Reviews geben mehr als nur einen aktuellen Überblick über die besprochenen Bücher, da sie auch Kommentare beinhalten. Als ...
Jahr2006
HeftNr10
Dateigröße95 KByte
Seiten1766-1771

Neues Linde-Werk eröffnet neue Perspektiven

Halbleitergase-Produktion in München-Unterschleißheim Mit der Einweihung des modernen Elektronikgasewerkes in München-Unterschleißheim am 15. September 2006 hat für die Linde AG, Geschäftsbereich Linde?Gas, das inzwischen weltweit größte Industriegase-Unternehmen, eine neue Ära begonnen. Bereits im Jahre 2004 stellte das Linde-Management die Weichen für ein stärkeres Engagement im Halbleitersegment und fand die ...
Jahr2006
HeftNr10
Dateigröße368 KByte
Seiten1764-1765

DVS-Mitteilungen 10/2006

Termine

DVS-Merkblätter zur Mikroverbindungstechnik

Jahr2006
HeftNr10
Dateigröße46 KByte
Seiten1763

Endoberflächen von Leiterplatten für die Bleifrei-Technologie

Für die Endoberfläche von Leiterplatten hat der Wechsel auf bleifreie Lote entscheidende Auswir- kungen. Nicht nur die um ca. 30 – 40 K höhere Löttemperatur, sondern auch die längeren Benetzungszeiten haben Konsequenzen für das eingesetzte Finish [1, 2]. Die Ausführungen beschreiben neueste Untersuchungen über die Eigenschaften und Anwendungsbereiche der Endoberflächen chemisch Nickel/Gold, chemisch Silber, chemisch Zinn, Hot Air ...
Jahr2006
HeftNr10
Dateigröße512 KByte
Seiten1755-1762

Vertical System Integration by Using Inter-Chip Vias and Solid-Liquid Interdiffusion Bonding

A new approach for 3D system integration, called Inter-Chip Via - Solid Liquid Interdiffusion (ICV-SLID) is introduced. This is a new chip-to-wafer stacking technology which combines the advantages of the Inter-Chip Via (ICV) process and the solid-liquid-interdiffusion technique (SLID) of copper and tin. The fully modular ICV-SLID concept allows the formation of multiple device stacks. A test chip was designed and the total process sequence ...
Jahr2006
HeftNr10
Dateigröße439 KByte
Seiten1751-1754

3-D MID-Informationen 10/2006

Haftverbesserung von PVD-Metallschichten auf technischen Kunststoffen durch Plasma bei Atmosphärendruck abgeschiedene Zwischenschichten Im Rahmen eines zurzeit laufenden BMBF-Verbundprojektes (FKZ 13N8751, 13N8753) konnte gezeigt werden, dass es möglich ist, durch bei Atmosphärendruck mittels dielektrischer Barriereentladung (DBD) abgeschiedene funktionelle Plasmapolymerschichten die Haftfestigkeit von im Vakuum aufgedampften ...
Jahr2006
HeftNr10
Dateigröße537 KByte
Seiten1746-1750

ESTC 2006 – die erste europäische Packaging-Konferenz war ein voller Erfolg

Das IAVT und die GWT der Technischen Universität Dresden haben die ESTC 2006, die 1. Electronics Systemintegration Technology Conference, die vom 5. bis 7. September 2006 in Dresden abgehalten wurde, in Zusammenarbeit mit der IEEE Components, Packaging and Manufacturing Technology Society (CPMT) und der VDE Fachgesellschaft GMM organisiert. Nachfolgend wird ein Überblick über die Konferenz gegeben. In den folgenden Heften werden ...
Jahr2006
HeftNr10
Dateigröße1,966 KByte
Seiten1739-1745

iMAPS-Mitteilungen 10/2006

16. Europäische Mikroelektronik- und Packaging-Konferenz EMPC2007

LTCC RF- and Microsystem Interconnect

Ankündigung für das Deutsche IMAPS-Seminar

Jahr2006
HeftNr10
Dateigröße244 KByte
Seiten1735-1738

Standzeit von Lötspitzen beim bleifreien Löten

Die Standzeit von Lötspitzen in Abhängigkeit von Temperatur, Flussmittel und Lotlegierung wurden untersucht. Es zeigt sich, dass Flussmittel mit hohem Harzgehalt in Kombination mit den neuen mikro- legierten Loten von Stannol den besten Schutz bieten. Bei den mikrolegierten Loten handelt es sich um bleifreie Legierungen, denen kleinste Mengen von Eisenmetallen mit Seltenen Erden beigemischt werden. Durch die geringe Dotierung werden die ...
Jahr2006
HeftNr10
Dateigröße302 KByte
Seiten1731-1734

Assessment of Blind Via Holes – An Alternative Approach

A simple and easy way of assessment of blind vias is shown, making failure analysis easier to perform and producing less controversy. //  Ein einfacher und leichter Weg zur Bewertung von Sackloch-Durchkontaktierungen wird aufgezeigt, der das Ausführen von Fehleranalysen leichter macht und weniger Zwist hervorruft. It has become common practice to use blind vias in many portable electronics products. Experience has shown that ...
Jahr2006
HeftNr10
Dateigröße573 KByte
Seiten1727-1730

20 Jahre LabVIEW – zum Jubiläum kommt das grafische Systemdesign hinzu

Anlässlich des Jubiläums erläuterte Dr. James Truchard, Präsident und CEO sowie einer der Gründer von National Instruments, am 13. September 2006 auf einer Pressekonferenz in München die Historie von LabVIEW (Laboratory Virtual Instrumentation Engineering Workbench). Er gab zudem einen Ausblick auf Innovationen der Zukunft und stellte die neue Version LabVIEW 8.20 vor. National Instruments ist seit 30 Jahren Pionier auf dem ...
Jahr2006
HeftNr10
Dateigröße111 KByte
Seiten1725-1726

Hochstrom-Leiterplatten und die Situation der EMS in Deutschland

Das dritte Treffen der Berliner Regionalgruppe des FED am 4. Juli 2006 belegte, dass interessante Vortragsthemen zu jeder Zeit Zuspruch finden. Hochstrom-Leiterplatten und die Analyse der Situation der EMS (Electronic Manufacturing Services) in Deutschland sind Themen, die immer mehr in den Vordergrund der heimischen Elektronikindustrie rücken und trotz „Sommerloch" auf reges Interesse stießen. Mitten in der Urlaubs- und ...
Jahr2006
HeftNr10
Dateigröße252 KByte
Seiten1722-1724

ElektroG: Ein halbes Jahr Erfahrung – Logistik ist größte Herausforderung

Die EU-Richtlinie WEEE (Waste electrical and electronic equipment) und die Umsetzung in deutsches Recht – das ElektroG – standen im Mittelpunkt der diesjährigen Kundenveranstaltung des Unternehmens HPM – Hellmann Process Management in Osnabrück bei der Deutschen Bundesstiftung Umwelt. Im Laufe der Veranstaltung kamen zahlreiche namhafte Referenten zu Wort. Christiane Schnepel, Umweltbundesamt, die zunächst die wichtigsten ...
Jahr2006
HeftNr10
Dateigröße234 KByte
Seiten1720-1721

electronica: erste Informationen

Die electronica 2006 vom 14. bis 17. November auf dem Gelände der Neuen Messe München hat eine Gesamtausstellungsfläche von 152 000 m2 in 14 Ausstellungshallen und ihr Veranstalter, die Messe München International, rechnet mit mehr als 75 000 Fachbesuchern, die die Gelegenheit nutzen werden, die Produkte und Services von über 3000 Ausstellern in Augenschein zu nehmen. Schwerpunkte sind die Wachstumsmärkte Automobilelektronik und RFID, ...
Jahr2006
HeftNr10
Dateigröße761 KByte
Seiten1716-1719

ESD-Schutz wird gesetzlich strenger und benötigt Kompetenz

Elektrostatik-Schutz ist eine unabdingbare Forderung für alle Elektronikunternehmen, um erforderliche Qualitätsparameter von Produkten zu sichern. Da die elektrostatische Entladung in der ganzen Prozess- kette lauert, sehen entsprechende Normen die Einsetzung eines ESD-Koordinators vor. Um diese auszu- bilden, werden vom FED Kurse angeboten. Es ist merkwürdig: Die Baugruppendienstleister klagen vielfach, dass die Umstellung auf ...
Jahr2006
HeftNr10
Dateigröße143 KByte
Seiten1713-1715

NI Automotive-Technologietag 2006

Prüfstandskonzepte in der Automobilindustrie standen im Mittelpunkt des 4. Technologietags von National Instruments, der am 12. Juli 2006 in Stuttgart veranstaltet wurde. Die Vorträge wurden durch eine Tischausstellung ergänzt, bei der man die vorgestellten Prüfsystemlösungen zum großen Teil gleich begutachten konnte. Frank Wiedmann, National Instruments Germany GmbH, München, eröffnete und moderierte den Automotive-Technologietag ...
Jahr2006
HeftNr10
Dateigröße637 KByte
Seiten1708-1710

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