Eugen G. Leuze Verlag KG
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Dokumente

Zukunftsthemen der Leiterplatten- und Baugruppenindustrie

Hochleistungssubstrate, eingebettete Komponenten und Multifunktionalität Wieder einmal war zu beobachten, dass innovative Technologiekonzepte und marktrelevante Entwicklungen eine erhebliche Wirkung auf die Fachwelt haben und Chancen für neue Produkte und erweiterte Anwendungen generieren. Die Konferenz und Fachausstellung EBL?2008 in Fellbach hat dies gerade mit großem Erfolg für Material- Fertigungs- und Zuverlässigkeitsaspekte ...
Jahr2008
HeftNr4
Dateigröße154 KByte
Seiten641

Jahresauftakt-Pressekonferenz von VDMA und SEMI

Im Rahmen einer Pressetour, die von London über Paris nach München ging, präsentierte SEMI Europe (Semiconductor Equipment and Materials International) in Partnerschaft mit dem Fachverband Productronic im Verband Deutscher Maschinen- und Anlagenbau (VDMA) in München die neuesten Informationen.

Jahr2008
HeftNr3
Dateigröße237 KByte
Seiten601-603

5th Conference Competence in Automotive Electronics 2007: die Elektronik wird noch wichtiger

Die am 3./4. Dezember vom ZVEI in München veranstaltete Konferenz bot einen umfassenden Überblick über die Zukunft der Automobilelektronik, wobei vor allem die Hybrid-Antriebstechnik und aktive Sicherheitssysteme sowie deren Vernetzung im Blickpunkt standen.

Jahr2008
HeftNr3
Dateigröße393 KByte
Seiten597-600

DVS-Mitteilungen 03/2008

  • Jahrbuch Mikroverbindungstechnik 2008/2009
  • Termine
  •  DVS-Merkblätter zur Mikroverbindungstechnik

 

Jahr2008
HeftNr3
Dateigröße147 KByte
Seiten595-596

Hochgeschwindigkeitsaufnahmen der Wedgebewegung beim US-Bonden

Durch verbesserte Technik konnte die Bewegung von Werkzeug, Draht und Chip beim Ultraschallbonden sichtbar gemacht werden. Dadurch konnte die Phase der Reibung (Draht an Pad) näher charakterisiert werden.

 

Jahr2008
HeftNr3
Dateigröße225 KByte
Seiten593-594

Erhöhung der Baugruppen-Zuverlässigkeit durch „richtige“ Basismaterial-Auswahl

Durch erhöhte Temperaturbeständigkeit und optimiertes Z-Achsen-Ausdehnungsverhalten leisten moderne Basismaterialien einen wesentlichen Beitrag zur Zuverlässigkeit elektronischer Baugruppen. Der Beitrag beleuchtet Aspekte der Materialauswahl, der Herstellung und Weiterverarbeitung, der Logistik sowie der Preisentwicklung. //  Thanks to their improved temperature resistance and optimised Z-axis coefficient of thermal expansion, ...
Jahr2008
HeftNr3
Dateigröße629 KByte
Seiten587-592

3-D-MID-Informationen 03/2008

Verfahrens- und Produktentwicklung in der MID Technologie – Teil 2 Ein spritzgegossener Schaltungsträger (MID) ist ein Formteil mit integrierter Leiterbildstruktur und kombiniert mechanische und elektrische Funktionen. Der Entwicklungsfokus der Präzisionsfertigungsabteilung von TNO liegt dabei auf der Realisierung größerer Gestaltungsfreiheiten (angefangen von der Oberfläche bis hin zum Volumen), der Erweiterung der ...
Jahr2008
HeftNr3
Dateigröße455 KByte
Seiten582-586

Mühlbauer setzt mit ASEM auf Flexibel

Im Mühlbauer-Entwicklungszentrum ASEM werden u.a. modulare Automatenlinien entwickelt, die Handling, Montage und Aufbau- und Verbindungstechnologie von extrem flexiblen Bauteilen innerhalb der Smart Label-Fertigung als Volumenfertigung ermöglichen. So konnte im Ergebnis erfolgreich abgeschlossener Forschungsprojekte gezeigt werden, dass neu entwickelte Automaten das Handling von Halbleiterchips beherrschen, die dünner als 30?µm sind. Auch ...
Jahr2008
HeftNr3
Dateigröße1,244 KByte
Seiten576-581

iMAPS-Mitteilungen 03/2008

IMAPS/ACerS 4th International Conference and Exhibition on Ceramic Interconnect and Ceramic Microsystems Technologies (CICMT 2008) 21./24. April 2008 Holiday Inn – City Centre, München, Deutschland Die Vorbereitungen für die CICMT 2008 in München laufen auf Hochtouren. Interessenten haben die Möglichkeit, sich im Internet unter www.cicmt.org für die Konferenz anzumelden. Darüber hinaus können sich potentielle ...
Jahr2008
HeftNr3
Dateigröße324 KByte
Seiten568-575

Produktinformationen - Baugruppentechnik 03/2008

SCARA-Roboter mit Schrittmotoren Präzisionsmikrodosiersystem PMDS 99 Neues Optimum-Zubehör für EFD-Dosiersysteme VIGON RC?101 mit verbessertem Sprühflaschen-Design Neue Lötpinzette von OK International für das SMT-Rework SEHO und KIC mit neuer Kommunikations-Software für den Reflow-Lötprozess TechnoLab-Videomikroskopie weiter verbessert Serienmäßige Inspektion von ...
Jahr2008
HeftNr3
Dateigröße756 KByte
Seiten560-567

electronica 2008 mit Fokus auf Automotive und Wireless

Die electronica 2008, die vom 11. bis 14.November 2008 auf dem Gelände der Neuen Messe München veranstaltet wird, zeigt wiederum das gesamte Spektrum der Elektronikindustrie und informiert in Ausstellung, Konferenzen und Foren über richtungsweisende Innovationen und Trends.

Jahr2008
HeftNr3
Dateigröße52 KByte
Seiten558

Flying Ofen – Nichts für schwache Nerven

Die Installation einer ERSA-Reflowanlage bei der Simtech Electronicservice Simanowski GmbH gestaltete sich abenteuerlich.

Jahr2008
HeftNr3
Dateigröße328 KByte
Seiten557

Unabhängige Prüfung der Lötwärmebeständigkeit

Im Applikationslabor mit der „LEADFREE-Trainingslinie" im Fraunhofer ISIT werden Lötwärmebeständigkeitstests an Leiterplatten und Bauteilen durchgeführt. Außerdem werden technologische Unterstützung, Beratung und Training in Fertigung, Qualität und Zuverlässigkeit elektronischer Baugruppen angeboten.

Jahr2008
HeftNr3
Dateigröße133 KByte
Seiten555

Possible Reasons for Ball Grid Array Dropped Ball

Starting with the definitions the possible causes of dropped BGA solder balls are discussed. //  Ausgehend von den Definitionen werden die mög- lichen Ursachen von losgelösten BGA-Lotkugeln erörtert. Over the last few years I have been asked to examine examples of Ball Grid Array (BGA) defects which are referred to as dropped ball. This type of defect can be found at different stages in the manufacturing process depending ...
Jahr2008
HeftNr3
Dateigröße435 KByte
Seiten552-554

Flachbaugruppen zu 100?% testen

Im Rahmen ihrer strategischen Partnerschaft haben die Wachendorff?GmbH und die RSG?Elotech?GmbH in je ein Testsystem der Dr.?Eschke?GmbH investiert. RSG produziert und testet als verlängerte Werkbank die Flachbaugruppen von Wachendorff, die ihre Flachbaugruppen von der ersten Idee über Prototypen bis zur Serienreife selbst entwickelt. Ausschlaggebend für die Investition waren zum einen die detaillierte Prüftiefe und zum anderen die ...
Jahr2008
HeftNr3
Dateigröße703 KByte
Seiten548-551

Neue Teststrategie bei inovel

Der Design- und Fertigungsdienstleister inovel hatte am 30.?November?2007 zu einem 1.?Technologietag nach Friedrichshafen eingeladen. Dort wurde die neue Teststrategie, bei der Elemente des Funktionstests in einen Flying Probe-Tester von Takaya integriert wurden, vorgestellt. Außerdem informierte Dr. Ing. Thomas Ahrens, Fraunhofer ISIT, über die Möglichkeiten, bereits beim Design Einfluss auf die Zuverlässigkeit der Baugruppe zu ...
Jahr2008
HeftNr3
Dateigröße519 KByte
Seiten541-546

ZVEI-Verbandsnachrichten 03/2008

Ad-hoc Arbeitskreis Traceability in der Elektronikfertigung „EMS im Fokus“ auf der SMT/HYBRID/PACKAGING 2008 Was können Sie bei Ihren Messeteilnahmen verbessern? Deutscher Gemeinschaftsstand auf der ChipExpo 2008 in Moskau electronica automotive: Konferenz, Ausstellung, Forum Vortragsmöglichkeiten zu Auftragsfertigung und Automobilelektronik in Indien Expertentreffen: ...
Jahr2008
HeftNr3
Dateigröße273 KByte
Seiten533-540

Rohstoffpreise: Rohöl

Das Jahr 2006 war geprägt von umfangreichen Rohstoffpreis-Erhöhungen, besonders bei Metallen und Rohöl. Die Weltbevölkerung hat seit Ende des 2. Weltkrieges mehr Rohstoffe verbraucht, als in der gesamten Menschheitsgeschichte zuvor. Diese Reihe beleuchtet die Entwicklung der Rohstoffpreise und deren Hintergründe.

Jahr2008
HeftNr3
Dateigröße279 KByte
Seiten530-532

Passivierungslösung für Kupfer bei der Herstellung von Leiterplatten

In der vorliegenden Arbeit wird eine organische Schutzschicht vorgestellt, die sich sehr gut zum Korrosionsschutz von Kupfer eignet. Messungen zeigten, dass das max. Anodenpotential unter Umständen zur Bestimmung der Porosität der OSP-Schicht herangezogen werden kann. Untersuchungen zur Erhaltung der Lötfähigkeit auf doppelseitigen Leiterplatten mit bleifreiem Lot zeigten gute Ergebnisse. Allerdings brachte der Salzsprühtest (NSS) ...
Jahr2008
HeftNr3
Dateigröße229 KByte
Seiten523-527

Bernd Schweizer – ein weiteres Familienmitglied im Vorstand

Zum 1. April 2008 tritt Bernd Schweizer als neues Vorstandsmitglied in die Schweizer Electronic AG, Schramberg, ein. Nachfolgend ein kurzes Portrait, in dem er sich und seine Ziele vorstellt.

 

Jahr2008
HeftNr3
Dateigröße70 KByte
Seiten522

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