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Dokumente
EMV 2002-Düsseldorf
Jahr | 2002 |
HeftNr | 3 |
Dateigröße | 124 KByte |
Seiten | 386 |
Ready to test: Der TECS-Workshop macht fit für die optimale Prüfung von Elektronikbaugruppen
Am 2. und 3. Juli 2002 war es wieder soweit: In Furt-wangen fand der zweitägige TECS-Workshop zum Thema Testverfahren und Teststrategien in der Elektronik statt. Dabei drehte sich alles um die Frage: Wie können die Strategien zur Prüfung bestückter Leiterplatten optimiert werden?
Jahr | 2002 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 141 KByte |
Seiten | 1586 |
DVS-Mitteilungen 03/2017
9. DVS/GMM-Tagung ,Elektronische Baugruppen und Leiterplatten – EBL 2018‘
Termine 2017
Termine 2018
DVS-Merkblätter zur Mikroverbindungstechnik
Jahr | 2017 |
HeftNr | 3 |
Dateigröße | 330 KByte |
Seiten | 538-539 |
Produktinformationen - Leiterplattentechnik 10/2001
Pumpen-/Filterwächter mit integriertem Trockenlauf- und Überlastschutz
Fischer präsentiert kostengünstiges, schnelles Messverfahren zur Analyse galvanischer Bäder
Jahr | 2001 |
HeftNr | 10 |
Dateigröße | 151 KByte |
Seiten | 1682 |
Neue Open Integration Platform von Cadence beschleunigt SoC-Realisierung und verringert Kosten
Jahr | 2010 |
HeftNr | 6 |
Dateigröße | 121 KByte |
Seiten | 1268-1269 |
ESD-Richtlinien unzureichend – kleinere Strukturen und neue Verarbeitungsmethoden fordern andere Schutzmaßnahmen
Die bekannten Klassiker unter den ESD-Schutzmaßnahmen wie leitender Fußboden, ableitende Kleidung und Schuhe reichen heute oft nicht mehr aus, denn heute bergen neue Verarbeitungsprozesse, Maschinen und das IC-Handling ein zusätzliches hohes ESD-Risiko. Grund dafür sind immer kleiner werdende und damit sensiti- vere Strukturen sowie die zunehmende Verarbeitung von Bare Dice, also ungehäusten IC.
Jahr | 2010 |
HeftNr | 5 |
Dateigröße | 448 KByte |
Seiten | 1180-1183 |
iMAPS-Mitteilungen 02/2010
Jahr | 2010 |
HeftNr | 2 |
Dateigröße | 190 KByte |
Seiten | 382-384 |
Software für die Elektronikindustrie
Jahr | 2015 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 702 KByte |
Seiten | 1542-1545 |
3-D-MID-Informationen 04/2009 Teil 1
NanoWork®-Schablonen bringen viele Vorteile für Spaun
Jahr | 2009 |
HeftNr | 7 |
Dateigröße | 544 KByte |
Seiten | 1562-1563 |
Aktuelles 02/2008
Jahr | 2008 |
HeftNr | 2 |
Dateigröße | 709 KByte |
Seiten | 236-251 |
Ausfälle elektronischer Bauteile – meist durch mangelhaften ESD-Schutz
Jahr | 2008 |
HeftNr | 6 |
Dateigröße | 1,292 KByte |
Seiten | 1252-1258 |
Offener Internet-of-Manufacturing-Standard für die Elektronikfertigung und erforderliche Hardware
Jahr | 2016 |
HeftNr | 6 |
Dateigröße | 2,751 KByte |
Seiten | 1065-1070 |
Bei Phoenix Contact erfolgen Prozesskontrollen und Fehleranalysen mittels hochauflösender Röntgeninspektion
Jahr | 2007 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 325 KByte |
Seiten | 1688-1690 |
Rationalisierung der nichtproduktiven Unternehmensbereiche – zeitgemäß, aber sehr komplex
Jahr | 2006 |
HeftNr | 3 |
Dateigröße | 79 KByte |
Seiten | 507-508 |
ZVEI-Verbandsnachrichten 09/2005
Jahr | 2005 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 212 KByte |
Seiten | 1571-1575 |
Weiterentwicklung von Prüfverfahren an Bond- und Lötverbindungen in Bauelementen und Modulen der Leistungselektronik
Projekt der Stiftung Industrieforschung
Handlungsbedarf im Dickdrahtbereich
Zur mechanischen Prüfung von Drahtbondverbindungen im Fertigungsprozess haben sich die zer- störenden Verfahren Zug- und Schertest als relativ einfach realisierbar durchgesetzt. Diese Verfahren sind für Drahtdurchmesser unter 100 µm (insbesondere im Dünndrahtbereich von 17,5 bis 50 µm) ausführlich untersucht.
Jahr | 2004 |
HeftNr | 4 |
Dateigröße | 61 KByte |
Seiten | 644-645 |
MID 2004 – folgt nach weiteren Fortschritten nun der Durchbruch?
Mit dem 6. Internationalen MID-Kongress, der von der Forschungsvereinigung 3-D MID e. V. vom 22. - 23. September 2004 in Erlangen veranstaltet wurde, scheint nun die Zeit für breitere MID-Anwen- dungen gekommen zu sein. Denn nun gibt es, wie dort aufgezeigt wurde, mehr und ausgereiftere sowie wirtschaftlich interessantere MID-Realisierungsmöglichkeiten.
Jahr | 2004 |
HeftNr | 11 |
Dateigröße | 639 KByte |
Seiten | 1909-1914 |
Mobiltelefon-Fertigung: Wie Surfen in heftiger Brandung
Selbst in der notorisch innovationsfreudigen IT-Branche ist kaum ein Produkt kurzlebiger als das Mobil- telefon: Manche Modelle verschwinden schon nach einem halben Jahr wieder aus den Regalen. Wer hier mithalten will, muss mit seiner Produktion äußerst flexibel auf den Wellenschlag des Markes reagieren können.
Jahr | 2003 |
HeftNr | 5 |
Dateigröße | 345 KByte |
Seiten | 809-812 |
12. BFE-Treffen – nötig sind noch umfassende Bleifrei-Zuverlässigkeitsuntersuchungen
Am 7./8. Oktober 2003 trafen sich Mitglieder und Gäste des Fachkreises Blei-Freie Elektronikbau- gruppen (BFE) in der Georg-Simon-Ohm-Fachhochschule Nürnberg und diskutierten die Fortschritte der Bleifrei-Technik. In den letzten Jahren wurden viele Bleifrei-Probleme gelöst, so dass das Löten mit blei- freien Legierungen serienreif ist, nur fundierte Zuverlässigkeitsaussagen sind wegen fehlender Basis- daten noch nicht möglich.
Jahr | 2003 |
HeftNr | 12 |
Dateigröße | 227 KByte |
Seiten | 1920-1922 |