Eugen G. Leuze Verlag KG
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Dokumente

EMV 2002-Düsseldorf

10. Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit vom 9.-11. April 2002, Messe Düsseldorf Vom 9. - 11. April 2002 findet die EMV 2002 Düsseldorf- Europas führende Messe und Kongress zum Thema Elektromagnetische Verträglichkeit - bereits zum 10. Mal statt. Mit der Kombination von Messe und Kongress werden den Teilnehmern sowohl anwenderorientierte Wissenschaft als auch konkrete Produktumsetzungen ...
Jahr2002
HeftNr3
Dateigröße124 KByte
Seiten386

Ready to test: Der TECS-Workshop macht fit für die optimale Prüfung von Elektronikbaugruppen

Am 2. und 3. Juli 2002 war es wieder soweit: In Furt-wangen fand der zweitägige TECS-Workshop zum Thema Testverfahren und Teststrategien in der Elektronik statt. Dabei drehte sich alles um die Frage: Wie können die Strategien zur Prüfung bestückter Leiterplatten optimiert werden?

 

Jahr2002
HeftNr9
Dateigröße141 KByte
Seiten1586

DVS-Mitteilungen 03/2017

9. DVS/GMM-Tagung ,Elektronische Baugruppen und Leiterplatten – EBL 2018‘

Termine 2017

Termine 2018

DVS-Merkblätter zur Mikroverbindungstechnik

Jahr2017
HeftNr3
Dateigröße330 KByte
Seiten538-539

Produktinformationen - Leiterplattentechnik 10/2001

Pumpen-/Filterwächter mit integriertem Trockenlauf- und Überlastschutz

Fischer präsentiert kostengünstiges, schnelles Messverfahren zur Analyse galvanischer Bäder

Jahr2001
HeftNr10
Dateigröße151 KByte
Seiten1682

Neue Open Integration Platform von Cadence beschleunigt SoC-Realisierung und verringert Kosten

Cadence Design Systems stellte Anfang Mai die Cadence Open Integration Platform vor. Durch den Einsatz der Plattform werden Entwicklungskosten für SoC-Systeme (System-on-Chip-Syteme) erheblich reduziert, die Qualität verbessert und die Produktion beschleunigt. Die Plattform ist ein Eckpfeiler der EDA360 Vision für applikationsgesteuerte Entwicklungen der nächsten Generation, die von Cadence während der ESC-Konferenz Ende April 2010 in ...
Jahr2010
HeftNr6
Dateigröße121 KByte
Seiten1268-1269

ESD-Richtlinien unzureichend – kleinere Strukturen und neue Verarbeitungsmethoden fordern andere Schutzmaßnahmen

Die bekannten Klassiker unter den ESD-Schutzmaßnahmen wie leitender Fußboden, ableitende Kleidung und Schuhe reichen heute oft nicht mehr aus, denn heute bergen neue Verarbeitungsprozesse, Maschinen und das IC-Handling ein zusätzliches hohes ESD-Risiko. Grund dafür sind immer kleiner werdende und damit sensiti- vere Strukturen sowie die zunehmende Verarbeitung von Bare Dice, also ungehäusten IC.

Jahr2010
HeftNr5
Dateigröße448 KByte
Seiten1180-1183

iMAPS-Mitteilungen 02/2010

Beziehungen zu IMAPS Nordamerika - Nachdem es im letzten Jahr erhebliche Probleme zwischen dem IMAPS-Board in den USA und den europäischen und asiatischen Chaptern gegeben hatte, scheint sich jetzt eine gewisse Entspannung abzuzeichnen. Während des internationalen Symposiums in San Jose im November fand ein Gespräch zwischen dem Präsidenten des ELC Nihal Sinnadurai und dem IMAPS-Präsidenten Doug Bokil statt, in dessen Verlauf Einigkeit ...
Jahr2010
HeftNr2
Dateigröße190 KByte
Seiten382-384

Software für die Elektronikindustrie

Siemens bietet eine Reihe von speziell auf die Elektronik- Mechatronik-Fertigung zugeschnittenen Software-Lösungen in einem umfassenden Industriesoftware-Portfolio. Diese wird als Digital Enterprise Software Suite vermarktet. Dem Komplex des Product Lifecycle Management (PLM) kommt dabei als systemischer Oberbegriff eine besondere Stellung zu. Die neuesten Versionen der Fertigungssoftware für die Elektronikindustrie zielen auf die ...
Jahr2015
HeftNr8
Dateigröße702 KByte
Seiten1542-1545

3-D-MID-Informationen 04/2009 Teil 1

Productronica 2009 in München

Jahr2009
HeftNr4
Dateigröße213 KByte
Seiten891

NanoWork®-Schablonen bringen viele Vorteile für Spaun

Die Spaun electronic GmbH & Co. KG konnte nach Fertigungsleiter Rainer Leitz und Marcus Zerb, Leiter der Produktentwicklung, durch den Einsatz der NanoWork®-Schablonen von LaserJob viele Verbesserungen erzielen. Spaun ist ein führender Hersteller von Komponenten für Satelliten-TV-Verteilanlagen und ähnliche Anwendungen. Die Produkte werden in kleineren und mittleren Stückzahlen produziert, wobei der Markt neben höchster ...
Jahr2009
HeftNr7
Dateigröße544 KByte
Seiten1562-1563

Aktuelles 02/2008

Nachrichten/Verschiedenes  Siegfried Ratzel verstorben Zusammenschluss zweier großer Testsystemhersteller 15 Jahre MAZeT Enthone expandiert in Osteuropa Aus rehm Anlagenbau wurde Rehm Thermal Systems Institut für dynamikrobuste Höchstleistung VDE-Präsidium 2008 neu aufgestellt IPTE hat Platzgummer erworben Personalveränderungen bei ...
Jahr2008
HeftNr2
Dateigröße709 KByte
Seiten236-251

Ausfälle elektronischer Bauteile – meist durch mangelhaften ESD-Schutz

Der 8. ESD-Workshop in Dresden, organisiert vom B.E.STAT European ESD competence centre in Kesselsdorf, vereinte wieder Experten aus allen Bereichen der Industrie, der Wissenschaft und Technik, die mit elektrostatische Aufladungen und Entladungen konfrontiert werden. Schwerpunkte bildeten dabei die Kontrolle der Entstehung elektrostatischer Aufladungen, die Messung der vorhandenen elektrostatischen Aufladungen, sowie Maßnahmen zur Vermeidung ...
Jahr2008
HeftNr6
Dateigröße1,292 KByte
Seiten1252-1258

Offener Internet-of-Manufacturing-Standard für die Elektronikfertigung und erforderliche Hardware

Im Februar 2016 kündigte Mentor Graphics die Einleitung der Open-Manufacturing-Language-Initiative (OML) an. Mit ihr reagierte der EDA-Software-Anbieter auf die Wünsche von Elektronikherstellern nach Entwicklung und Bereitstellung einer Bestückungsprozess-spezifischen Internet-of-Manufacturing-Lösung. Zur IPC Apex Expo 2016 und zur SMT-Messe 2016 wurde OML zusammen mit einer sicheren plug-and-play-fähigen IoT-Hardware- und ...
Jahr2016
HeftNr6
Dateigröße2,751 KByte
Seiten1065-1070

Bei Phoenix Contact erfolgen Prozesskontrollen und Fehleranalysen mittels hochauflösender Röntgeninspektion

Die Anforderungen der Phoenix Contact Electronics GmbH, Bad Pyrmont, an ein Röntgeninspektions- system sind sehr anspruchsvoll und vielseitig; denn es werden manuelle und automatische Prozesskontrol- len und Fehleranalysen in der Baugruppenfertigung, eine einfache Programmierung der Inspektions- module, höchste Auflösungen bis in den Submikrometerbereich sowie eine nachgewiesene höchste Präzision von Hardware und Software gefordert. So ...
Jahr2007
HeftNr9
Dateigröße325 KByte
Seiten1688-1690

Rationalisierung der nichtproduktiven Unternehmensbereiche – zeitgemäß, aber sehr komplex

Globalisierung und zunehmender Kostendruck zwingen die Unternehmen, nach weiteren Kostensenkungsmöglichkei- ten zu suchen. Allein durch Rationalisierung in den klassischen produktiven Unternehmensbereichen Entwicklung, Design und Fertigung lässt sich das immer weniger realisieren. Deshalb geraten auch die nichtproduktiven Unternehmensbereiche zunehmend in den Fokus. Die dabei zu lösenden Aufgaben sind sehr komplex und beileibe kein ...
Jahr2006
HeftNr3
Dateigröße79 KByte
Seiten507-508

ZVEI-Verbandsnachrichten 09/2005

ElektroG: Stiftung Elektro-Altgeräte-Register (EAR) erhält offiziell den Auftrag die Rücknahme von Elektroschrott zu koordinieren Richtlinie zur umweltgerechten Gestaltung energiebetriebener Produkte (EuP) veröffentlicht Erweiterung der Applikationsgruppe (APG) Automotive auf verschiedenen Ebenen Produktionstechnik für eine Aufbau- und Verbindungstechnik für die Nanoelektronik ZVEI-Podium zur ...
Jahr2005
HeftNr9
Dateigröße212 KByte
Seiten1571-1575

Weiterentwicklung von Prüfverfahren an Bond- und Lötverbindungen in Bauelementen und Modulen der Leistungselektronik

Projekt der Stiftung Industrieforschung

Handlungsbedarf im Dickdrahtbereich

Zur mechanischen Prüfung von Drahtbondverbindungen im Fertigungsprozess haben sich die zer- störenden Verfahren Zug- und Schertest als relativ einfach realisierbar durchgesetzt. Diese Verfahren sind für Drahtdurchmesser unter 100 µm (insbesondere im Dünndrahtbereich von 17,5 bis 50 µm) ausführlich untersucht.

Jahr2004
HeftNr4
Dateigröße61 KByte
Seiten644-645

MID 2004 – folgt nach weiteren Fortschritten nun der Durchbruch?

Mit dem 6. Internationalen MID-Kongress, der von der Forschungsvereinigung 3-D MID e. V. vom 22. - 23. September 2004 in Erlangen veranstaltet wurde, scheint nun die Zeit für breitere MID-Anwen- dungen gekommen zu sein. Denn nun gibt es, wie dort aufgezeigt wurde, mehr und ausgereiftere sowie wirtschaftlich interessantere MID-Realisierungsmöglichkeiten.

Jahr2004
HeftNr11
Dateigröße639 KByte
Seiten1909-1914

Mobiltelefon-Fertigung: Wie Surfen in heftiger Brandung

Selbst in der notorisch innovationsfreudigen IT-Branche ist kaum ein Produkt kurzlebiger als das Mobil- telefon: Manche Modelle verschwinden schon nach einem halben Jahr wieder aus den Regalen. Wer hier mithalten will, muss mit seiner Produktion äußerst flexibel auf den Wellenschlag des Markes reagieren können.

Jahr2003
HeftNr5
Dateigröße345 KByte
Seiten809-812

12. BFE-Treffen – nötig sind noch umfassende Bleifrei-Zuverlässigkeitsuntersuchungen

Am 7./8. Oktober 2003 trafen sich Mitglieder und Gäste des Fachkreises Blei-Freie Elektronikbau- gruppen (BFE) in der Georg-Simon-Ohm-Fachhochschule Nürnberg und diskutierten die Fortschritte der Bleifrei-Technik. In den letzten Jahren wurden viele Bleifrei-Probleme gelöst, so dass das Löten mit blei- freien Legierungen serienreif ist, nur fundierte Zuverlässigkeitsaussagen sind wegen fehlender Basis- daten noch nicht möglich.

Jahr2003
HeftNr12
Dateigröße227 KByte
Seiten1920-1922

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