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Dokumente
Trocknen von Leiterplatten
Die RoHS-Vorschrift (Restriction of Hazardous Substances) verlangt seit 2006 die Verwendung von bleifreien Loten, was eine Erhöhung der Löttemperatur um 20 °C bis 30°C bis auf ca. 245 °C für etwa 50 s bedeutet. Um bei der erhöhten Löttemperatur Delaminationen der Leiterplatte infolge von Feuchtigkeit zu vermeiden, kommt dem Trocknen vor dem Löten eine erhöhte Bedeutung zu.
Jahr | 2011 |
HeftNr | 12 |
Dateigröße | 450 KByte |
Seiten | 2832-2837 |
Erfolgsfaktor Kundennähe – für individuelle Leiterplatten unverzichtbar
Komplexe Produkte angehen und umsetzen zu können, setzt immer eines voraus: kompetente Partner mit Innovationspotenzial. Im Rahmen des ersten Kompetenztages Leiterplatte lud die Häusermann GmbH nach Gars am Kamp in Österreich ein und gewährte ihren Kunden einen Einblick in eine der modernsten Leiterplattenfertigungen Europas...
Jahr | 2011 |
HeftNr | 12 |
Dateigröße | 185 KByte |
Seiten | 2830 |
Wie viel Zukunft hat der Fertigungsstandort Europa?
Ein gutes Jahr 2011 endet mit konjunktureller Abschwächung. Zeit für eine Standortbestimmung
Jahr | 2011 |
HeftNr | 12 |
Dateigröße | 307 KByte |
Seiten | 2826-2828 |
Zuken beschleunigt die Prüfung von Schaltplänen in Embedded-Systemen von Intel
Zuken hat ein Ausgabemodul für das Electronic Design Interchange Format (EDIF) für Intel Schematic Review entwickelt. Dieses Austauschformat basiert auf den Lösungen für die Electronic Design Automation (EDA) von Zuken. Der EDIF-Writer verkürzt die Zeit, die für die Prüfung von Schaltplänen in Intel Embedded-Systemen benötigt wird...
Jahr | 2011 |
HeftNr | 12 |
Dateigröße | 141 KByte |
Seiten | 2815 |
Kleinste SIM-Karte der Welt entwickelt
Der Mu?nchner Hersteller von Sicherheitstechnik Giesecke & Devrient (G&D) hat die kleinste SIMKarte der Welt entwickelt. Die Nano-SIM getaufte Entwicklung unterbietet herkömmliche SIM-Karten in Sachen Größe um rund 60 % und könnte bereits nächstes Jahr in ersten Geräten Verwendung finden. Die Standardisierung soll bis Ende des Jahres erfolgen.
Jahr | 2011 |
HeftNr | 12 |
Dateigröße | 128 KByte |
Seiten | 2814 |
Zuken präsentiert neue Lösung für die Multiboard- Systementwicklung von der Konzeption bis zur Fertigung
Jahr | 2011 |
HeftNr | 12 |
Dateigröße | 411 KByte |
Seiten | 2810-2813 |
Power Delivery Network (Power Integrity)
Jahr | 2011 |
HeftNr | 12 |
Dateigröße | 436 KByte |
Seiten | 2806-2809 |
Texas Instruments: Mehr Strom!
Die Akquisition von National Semiconductor hat Texas Instruments nun abgeschlossen. Damit gehört der ehemalige Konkurrent zur Analog-Geschäftssparte des Chipherstellers. Unbestritten profitiert Texas Instruments davon und stellt im ersten Anlauf weitere Simple Switcher und PMBus-Stromversorgungslösungen vor, die auf dem langjährigen Know-how des Rivalen fußen.
Jahr | 2011 |
HeftNr | 12 |
Dateigröße | 387 KByte |
Seiten | 2798-2801 |
Harwin: Oberflächenmontierbare Clips und Sockel verkürzen Montagezeit
Harwin hat seine Produkfamilie EZ-BoardWare um neuartige Kabelclips und kostengünstige SMT-Stecksockel erweitert: Sie wurden entwickelt, um Fertigungsprozesse einfacher zu gestalten, das Leiterplattendesign zu erleichtern und in verschiedenen Anwendungen Prozesskosten einzusparen. Vor allem Elektronikfertigungs- Dienstleister mit hohem Produktmix will der Steckverbinder-Hersteller adressieren.
Jahr | 2011 |
HeftNr | 12 |
Dateigröße | 334 KByte |
Seiten | 2795-2797 |
Atmel: MCU mit LF-RFID-Reader in einem Gehäuse
Mit dem ATA5505 von Atmel steht ein Bauteil zur Verfügung, das einen AVR-Mikrocontroller (mit 16 kByte ISP-Flash-Speicher) mit einem RFID-Reader- Block in einen 5 mm x 7 mm kleinen QFN-Gehäuse vereint. Der ATA5505 arbeitet im LF-Bereich von 100 kHz bis 150 kHz und eignet sich für alle Arten von ASK-RFID-Readern und -Programmiergeräten für Anwendungen der Zugangskontrolle, Industrieautomation und Tieridentifikation.
Jahr | 2011 |
HeftNr | 12 |
Dateigröße | 162 KByte |
Seiten | 2794 |
Erni Electronics: Robuste zweireihige SMT-Steckverbinderserie
Jahr | 2011 |
HeftNr | 12 |
Dateigröße | 364 KByte |
Seiten | 2789-2793 |
Energieeinsparungen bei Transistoren
Forscher der University of California in Berkeley haben herausgefunden, wie es möglich wäre, die für eine bestimmte Ladung eines Kondensators nötige Spannung zu verringern, was Potential für eine weitere Verkleinerung von Halbleiterstrukturen verspricht. Durch die Eigenschaften spezieller ferroelektrischer Materialien entsteht ein Effekt, den die Forscher als negative Kapazität bezeichnen...
Jahr | 2011 |
HeftNr | 12 |
Dateigröße | 168 KByte |
Seiten | 2788 |
Europäische Mikroelektronik, Halbleitertechnik, Organische und Bio-Elektronik
Bericht über die SEMICON Europa 2011 und Plastic Electronics 2011 Conference & Exhibition
Jahr | 2011 |
HeftNr | 12 |
Dateigröße | 712 KByte |
Seiten | 2781-2788 |
Endlich mal ein Lunker mit professoralem Namen
Im Jahr 1947 entdeckte Ernest Kirkendall (1912 bis 2005), ein amerikanischer Professor des Chemieingenieurwesens an der Wayne State University, Löcher, die bald seinem Namen trugen.
Jahr | 2013 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 358 KByte |
Seiten | 1751-1752 |
Microelectronics Saxony und die vierte Industrierevolution
Jahr | 2013 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 865 KByte |
Seiten | 1742-1750 |
Design und Produktion von Prozessorbaugruppen für extreme Einsatzbedingungen
Dieser Beitrag beleuchtet anhand des HPC (High Performance Computer), welche Sonderkonzepte sowohl bei der Bauelementeauswahl, im Vorfeld der Bestückung, als auch innerhalb der Flachbaugruppen- Fertigung ergriffen wurden, um die Plattformstrategie zuverlässig und applikationsoptimiert umsetzen zu können.
Jahr | 2013 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 822 KByte |
Seiten | 1730-1735 |
Silicon Capacitors with extremely high stability and reliability ideal for high temperature applications
Jahr | 2013 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 530 KByte |
Seiten | 1725-1729 |
Verbindungstechniken für hohe Betriebstemperaturen
Jahr | 2013 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 654 KByte |
Seiten | 1717-1724 |
Flying-Probe-Tests – die Regeln haben sich geändert
Jahr | 2013 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 340 KByte |
Seiten | 1712-1713 |
Test- und Prüfverfahren in der Elektronikfertigung
Ein Fachbuch von Mario Berger, das neben einem umfassenden Überblick vom Arbeitsprinzip bis zu den Design-for-Test-Regeln viele Hinweise für die Praxis bietet.
Jahr | 2013 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 922 KByte |
Seiten | 1711 |