SMU mit hoher Kanaldichte beschleunigt Charakterisierung von Halbleitern

Während des Designzyklus müssen mehrere Ports an einem einzelnen Prüfling (Device Under Test, DUT) angeschlossen und getestet werden, um Fehler zu beheben und die Leistung des IC zu charakterisieren. Ohne automatisierte High-Density-Charakterisierung kann sich die Entwicklung verlangsamen, da man komplexe Multiport-Designs über komplizierte Testaufbauten mit geringer Dichte validieren muss.

Die SMU der Serie PZ2100 von Keysight bietet eine Lösung mit hoher Dichte, die auf 20 Kanäle in kompakter 1U-Rack-Konfiguration skalierbar ist. Dies beschleunigt die Markteinführung durch flexible Softwareoptionen, vereinfachte Systemintegration sowie anwendungsspezifische Messfunktionen. Die Single-Box-Lösung zur Vereinfachung von Kanal-Stacking und -Synchronisation reduziert die Komplexität der Integration und Codierung. Das GUI beschleunigt Test-Prototyping, Fehlersuche und -behebung, während die PathWave-IV-Curve-Measurement-Software schnelle Messungen und Synchronisation ohne Programmierung ermöglicht. Bis zu 20 SMU-Kanäle im 1U-Formfaktor mit voller Breite sparen Platz im Rack. Erhältlich sind fünf konfigurierbare und aufrüstbare Moduloptionen. Die Integration von Impulsgeber- und Digitizer-Funktionen in herkömmliche SMU-Funktionen, wie präzise Gleichspannungsversorgung und -messung, erfüllt neue Anforderungen ohne zusätzliche Messgeräte.