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Dokumente

Terahertz-Technologien für Innovationen in Kommunikation und Sensorik

Im jüngst gestarteten Verbundprojekt T-KOS der Forschungsfabrik Mikroelektronik Deutschland soll die Terahertz-Technologie erstmals synergetisch in den Bereichen Kommunikation und Sensorik für die Industrie erschlossen werden. Innovative Systemlösungen in beiden Bereichen können entscheidend dazu beitragen, Zukunftsthemen, wie Digitalisierung, Industrie 4.0 oder Ressourceneffizienz, erfolgreich umzusetzen und somit den Wirtschaftsstandort ...
Jahr2021
HeftNr7
Dateigröße710 KByte
Seiten891-892

Teradyne: Test & Inspektion aus einer Hand

Im Rahmen der electronica in München lud Teradyne zu einer Pressekonferenz, um das erstmals in Europa ausgestellte automatische optische Inspektionssystem Optima 7300 sowie die neue Spectrum 8911/8912 Funktionstestplattform vorzustellen. Dave Anderson, Business Unit Manager, Commercial Business Unit, der Teradyne Assembly Test Divi- sion, übernahm sowohl die Produktvorstellung als auch die Betrachtung der sich wandelnden ...
Jahr2001
HeftNr1
Dateigröße407 KByte
Seiten54-56

Teradyne: Neuvorstellung des AOI Optima 7200

Mit dem Optima 7200 stellt Teradyne das neueste Mitglied seiner Optima 7000-Serie vor. In dieser Baureihe sind alle automatisierten optischen Inpektionssysteme der nächsten Generation zusammengefasst.

 

Jahr2001
HeftNr4
Dateigröße125 KByte
Seiten664

Teradyne: Hyper Speed Baustein-Charakterisierung erstmals auf Fertigungslevel

Die Herausforderung beim Test von SOC ist die kritische SerDes-performance. 2,5 -10 Gbps Datenraten bringen die CMOS-Herstellimg an ihre Grenzen. Noise (Jitter), ausgelöst durch Substrat und Stromversorgung und at-speed performance, können mit heutigen Design-Tools nicht simuliert werden, was eine Verfikation während des Herstellprozesses erforderlich macht. Das Problem wurde anhand der Testanforderungen von SerDes-Devices illustriert. ...
Jahr2001
HeftNr10
Dateigröße360 KByte
Seiten1616-1618

Teradyne: Catalyst Tiger SOC-Testsysteme mit über 1 Gbit/s

Das neue Testsystem erweitert mit Tiger die Catalyst SOC-Testerfamitie (System-on-a-Chip). Es stellt Anwendern 1.024 digitale Pins sowie eine Datenrate von 1,6 Gbit/s zur Verfügung und erlaubt mit seinen Integrierten Real Time Ana- log-Instrumenten das Testen von SOC-Komponenten In Disk Drives, Netzwerk-Switching Systemen, PC-Chipsätzen und Hochleistungs-Grafik-Applikationen,

 

Jahr2000
HeftNr10
Dateigröße136 KByte
Seiten1635

Teradyne und GenRad erstmals vereint auf der Productronica 2001

Wohl kaum eine Nachricht hat die Gemüter der Testerwelt so überrascht, wie die Ankündigung der Übernahme des Testerpioniers GenRad durch Teradyne im Spätsommer. Fast unglaublich, dass beide Unternehmen nach dem erst vor einer Woche vor der Messe vollzogenen Zusammenschlusses bereits auf der Productronica gemeinsam auftraten. Im Rahmen einer stark beachteten Pressekonferenz wurde die Zukunft aufgezeigt durch Robert M. Dutkowsky, ...
Jahr2001
HeftNr12
Dateigröße280 KByte
Seiten2089-2090

Teradyne mit neuer AOI-Generation

Auf Großserien-SMT-Inspektion mit hohem Durchsatz spezialisiert Zur diesjährigen APEX-Show in Long Beach hat Teradyne Inc. erstmals seine neue Optima 7300-Serie vorgestellt, die nächste Generation von automatischen optischen Inspektionssystemen für den Post-Reflow-Einsatz (nach Lotpastendruck und Lötvorgang). Die Optima 7300 ist das erste System der kommenden Generation von automatischen Inspektionssystemen von Teradyne, die im ...
Jahr2000
HeftNr7
Dateigröße265 KByte
Seiten1118-1119

Temporary Bonding and DeBonding Processes and Equipment

Temporary bonding and debonding for thin wafer handling and processing Thin wafer processing is a key enabling technology not only for Through-Silicon-Via (TSV) fabrication and 3D chip stacking, but also for silicon based power devices, LEDs, MEMS and GaAs Power Amplifiers. Those niche markets and applications have been the area in which temporary bonding and debonding techniques as a means for reliably handling thinned wafers have been ...
Jahr2010
HeftNr10
Dateigröße557 KByte
Seiten2349-2354

Temporär flüssige Lötverbindungen für Anwendungen bis 250°C

Dieser Artikel gibt eine Zusammenfassung von Ergebnissen des Verbundvorhabens „Innovative Bauweisen von elektronischen Baugruppen mit flüssi- gen Lötverbindungen für den Temperaturbereich bis 200°C". Der grundsätzlich neuartige Lösungsansatz des Projektes bestand in der Anwendung von Lotwerkstoffen, die sich während des Betriebseinsatzes im schmelzflüssigen Zustand befinden. Das flüssige Metall übernimmt dabei die Funktion des ...
Jahr2005
HeftNr3
Dateigröße572 KByte
Seiten521-530

Temperaturmessungen beim Weichlöten

Die Möglichkeiten der Temperaturmessung in der Baugruppenfertigung werden beschrieben sowie die Einsatzmöglichkeiten von handelsüblichen Thermoelementen und deren Kontaktierung am Messort auf der elektronischen Baugruppe vorgestellt. Der Einsatz von konventionellen Baugruppen und eines speziellen, kalibrierbaren robusten Messboards wird verglichen.// The various methods for temperature measurement in the construction of electronic ...
Jahr2003
HeftNr11
Dateigröße400 KByte
Seiten1757-1765

Temperature Calculator automatisiert Wärmeberechnung in Schaltschränken

Mit dem Temperature Calculator veröffentlichte die AmpereSoft GmbH ein neues Berechnungs-Tool für die Elektrobranche. Dieses kann auch für die Elektronikindustrie nützlich sein. Es berechnet automatisiert die Wärmesituation unter Einbeziehung aller betriebsmittelbezogenen und lastabhängigen Variablen in Schaltschränken.

 

Jahr2017
HeftNr9
Dateigröße1,387 KByte
Seiten1599-1600

Temperaturbewusstsein im Gehäuse

Wärmegerechtes Design bedingt sowohl gute Wärmeverteilung innerhalb der Baugruppe, als auch guten Weitertransport in das Gerät und aus dem Gerät her- aus. Gutes Wärmemanagement braucht aber ebenfalls laufend Kommunikation und Abstimmung zwischen allen Beteiligten. Thermal design in electronics includes good heat distribution at PCB level but also good heat transfer into the device and to ambient. In addition, good thermal management ...
Jahr2010
HeftNr4
Dateigröße553 KByte
Seiten737-740

Temperatur und Interdiffusion beim Ultraschall-Wedge/Wedge-Bondverschweißen von Aluminiumdrähten auf Ni/Flash-Au

                                                                                 
Jahr2011
HeftNr1
Dateigröße301 KByte
Seiten145-150

Tektronix: Oszilloskop und Spektrumanalysator in einem

Eine völlig neue Oszilloskopkategorie stellt Tektronix mit der Mixed-Domain-Oszilloskop-Serie MDO4000 vor und vereint damit zwei Welten: Das weltweit erste Mixed-Domain-Oszilloskop bündelt die Funktionen eines Oszilloskops und eines Spektrumanalysators in einem einzigen Gerät und erfasst analoge, digitale und HF-Signale zeitkorreliert.

Jahr2011
HeftNr10
Dateigröße536 KByte
Seiten2341-2344

Tektronix adressiert Midrange-Bereich

Mit der jüngsten Erweiterung seiner Oszilloskop-Plattform, der MSO/DPO5000-Serie, will Tektronix im Midrange-Bereich seine bisherige Position weiter ausbauen, insbesondere in der Medizinelektronik und im weiten Feld der erneuerbaren Energien. Das System soll ein gutes Preis-Leistungs-Verhältnis haben und mit neuartigen Breitband-Tastköpfen für eine höhere Analysefähigkeit sorgen.

Jahr2011
HeftNr2
Dateigröße349 KByte
Seiten260-262

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