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Dokumente
1. ETFN – eine positive Überraschung für alle
Jahr | 2009 |
HeftNr | 4 |
Dateigröße | 1,010 KByte |
Seiten | 845-858 |
Bleifreiproblematik ist andauernd von Interesse
Jahr | 2009 |
HeftNr | 7 |
Dateigröße | 339 KByte |
Seiten | 1512-1514 |
Feinstleiterstrukturen in Dünnschichttechnik auf keramischen Mehrschichtsubstraten (LTCC)
Jahr | 2008 |
HeftNr | 1 |
Dateigröße | 975 KByte |
Seiten | 157-164 |
Die Qualität von Wellenlotlegierungen
Jahr | 2008 |
HeftNr | 6 |
Dateigröße | 1,164 KByte |
Seiten | 1216-1222 |
Die weltgrößten Leiterplattenhersteller 2006
Jahr | 2007 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 310 KByte |
Seiten | 1655-1662 |
Dünnfilm-Technik für Leiterplatten und höchste Integrationsdichte
Jahr | 2006 |
HeftNr | 3 |
Dateigröße | 234 KByte |
Seiten | 477-480 |
ESTC 2006 – die erste europäische Packaging-Konferenz war ein voller Erfolg
Jahr | 2006 |
HeftNr | 10 |
Dateigröße | 1,966 KByte |
Seiten | 1739-1745 |
DAGE ist nicht nur bei Bondtestern federführend
Die Firma Dage ist seit über 35 Jahren Marktführer im Bereich Bondtester und gehört inzwischen auch auf anderen Gebieten, u. a. bei Röntgeninspektionssystemen zu den führenden Firmen. Josef Pandza und Armin Struwe, der Geschäftsführer und der Produktmanager der Dage Semiconductor GmbH, Kirchheim/Teck, informierten die PLUS-Redaktion am 25. Januar 2005 über die Firma und deren Produkte. Dabei stellten sie auch einige Neuheiten vor.
Jahr | 2005 |
HeftNr | 3 |
Dateigröße | 277 KByte |
Seiten | 489-491 |
FED-Informationen 09/2005
FED-Veranstaltungskalender
Aus dem Verbandsleben
Die FED-Geschäftsstelle teilt mit
Standpunkt der Master Trainer des FED bei der Anwendung von IPC-A-610 während des Übergangs von Revision C auf Revision D
Kurz informiert
Fachliteratur
Jahr | 2005 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 113 KByte |
Seiten | 1532-1536 |
iMAPS-Mitteilungen 04/2004
Deutsche IMAPS Konferenz
Eureka: Strategische Projekte der industriellen Forschung
Noch zu haben: Proceedings
Internet-Auftritt von IMAPS Deutschland
Kontakte und Adressen des IMAPS-Vorstandes
Jahr | 2004 |
HeftNr | 4 |
Dateigröße | 319 KByte |
Seiten | 605-609 |
Online-Versteigerungen für die automatische Leiterplattenbestückung
Jahr | 2004 |
HeftNr | 11 |
Dateigröße | 171 KByte |
Seiten | 1872 |
8. Anwenderkongress VIP 2003 – Wissensvorsprung durch Technologie
Den von der National Instruments Germany GmbH am 12. und 13. März 2003 in München veranstal- teten Anwenderkongress „Virtuelle Instrumente in der Praxis – VIP 2003" besuchten rund 350 Teilnehmer. Alle waren von diesem einzigartigen Forum, das Technologie, Information, Kommunikation und Diskus- sion in sich vereint und bei dem viele neue Applikationslösungen präsentiert wurden, sehr angetan.
Jahr | 2003 |
HeftNr | 5 |
Dateigröße | 361 KByte |
Seiten | 761-765 |
Wie geht es weiter mit Chip in Polymer?
In der Abschlusspräsentation zum Verbundvorhaben Chip in Polymer (CiP) am 22. Oktober 2003 im Fraunhofer IZM München demonstrierten die Projektpartner, dass die Integration passiver und aktiver Bauelemente in die Leiterplatte technologisch prinzipiell lösbar ist. Transfer und Nutzung der For- schungsergebnisse in konkreten Applikationen waren nur in Ansätzen erkennbar.
Jahr | 2003 |
HeftNr | 12 |
Dateigröße | 439 KByte |
Seiten | 1880-1883 |
ZVEI-Verbandsnachrichten 09/2002
Jahr | 2002 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 1,499 KByte |
Seiten | 1530-1542 |
Industrielle Anlage zur OLED-Einkapselung
Jahr | 2017 |
HeftNr | 3 |
Dateigröße | 362 KByte |
Seiten | 507 |
Teradyne: Hyper Speed Baustein-Charakterisierung erstmals auf Fertigungslevel
Jahr | 2001 |
HeftNr | 10 |
Dateigröße | 360 KByte |
Seiten | 1616-1618 |
Rosnano investiert in Trägerentwicklung für LED-Anzeigen
Jahr | 2010 |
HeftNr | 6 |
Dateigröße | 111 KByte |
Seiten | 1252-1254 |
3-D MID-Informationen 05/2010
Jahr | 2010 |
HeftNr | 5 |
Dateigröße | 858 KByte |
Seiten | 1145-1149 |
Dage Deutschland vertreibt Röntgeninspektionssysteme von Yestech
Yestech hat im November auf der productronica 2009 erstmalig in Europa sein neues inlinefähiges Röntgeninspektionssystem X3 vorgestellt. Dieses bietet neben den üblichen Algorithmen für die BGA- Inspektion auf Lotbrücken und offene Lötverbindungen auch Routinen für QFN- und QFP-Lötverbindungen an. Die Bauteile können auf einseitig wie auch doppelseitig bestückten Leiterplatten untersucht werden.
Jahr | 2010 |
HeftNr | 2 |
Dateigröße | 237 KByte |
Seiten | 359 |
Klebetechnologien – es dürfen in Zukunft ruhig ein wenig mehr Anwendungen sein!
Jahr | 2015 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 308 KByte |
Seiten | 1505 |