Eugen G. Leuze Verlag KG
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Dokumente

Prozessproblematiken Oberfläche, Montage und Schadensanalyse

In ihrem Treffen Ende November 2010 beschäftigten sich die Mitglieder des Sächsischen Arbeitskreises Elektroniktechnologie (SAET) mit Problematiken verschiedener Oberflächenprozesse, mit Montagetechnologien und mit der Schadensanalyse an Elektronikbauteilen. Als attraktiven Gastgeber hatten sie das unabhängige Prüf- und Qualifizierungsunternehmen für technische Produkte, TechnoLab GmbH Berlin gewonnen und konnten dort die umfangreichen ...
Jahr2011
HeftNr1
Dateigröße559 KByte
Seiten121-124

Prozesssicherheit und Prozessüberwachung in der Leiterplattenfertigung

Die Fertigung der Jenaer Leiterplatten GmbH (JLP) ist speziell auf die Produktion von Klein- und Mittel- serien ausgerichtet, wobei die Schwerpunkte auf Musterleiterplatten und Eilservice liegen. Um Qualität und Liefertreue zu steigern, wurden jetzt neue Maßnahmen zur Überwachung der Prozesse und -medien ergriffen, die im Folgenden dargelegt werden.

Jahr2008
HeftNr11
Dateigröße533 KByte
Seiten2378-2382

Prozesssicherheit vor dem Prototypenbau

Die Kluft zwischen Wunsch und Wirklichkeit in der Praxis könnte nicht größer sein: Der Designabschluss ist geschafft und anschließend soll es in die Serienfertigung gehen. Nicht selten ist der Druck des Marktes groß, so dass es bei der Leiterplattenbestückung zu Problemen kommt. Die Folgen: spät detektierte Fehlerquellen, unvermeidliche Korrekturschleifen und eine zeitliche Verzögerung. Forecast-Check der Layout-Daten: „Nicht immer ...
Jahr2021
HeftNr7
Dateigröße375 KByte
Seiten862

Prozesstrends und Messtechnik für impedanzkontrollierte Leiterplattenproduktion

Die technischen Anforderungen an Leiterplatten haben sich in den vergangenen Jahren stark verändert. Die Layouts sind feiner geworden, die Leiterplatten müssen auf weniger Platz ihre Aufgaben erfüllen und müssen elektrischen, thermischen und sogar oft statischen Vorgaben standhalten. Die Entwicklungen der Elektronik und Industrietrends geben vor, was eine Leiterplatte leisten muss. Immer mehr Anwendungen arbeiten mit ...
Jahr2013
HeftNr10
Dateigröße736 KByte
Seiten2142-2145

Prüfadapter für bestückte elektronische Flachbaugruppen, Module und Hybride

Elektronische Flachbaugruppen, Module und Hybride lassen sich bis heute und leider auch in Zukunft nicht fehlerfrei fertigen. Sie müssen also zu hundert Prozent getestet werden. Dabei werden im wesentlichen zwei Testverfahren unterschieden, der Incircuittest und der Funktionstest.

Jahr2002
HeftNr6
Dateigröße737 KByte
Seiten1018-1023

Prüfadapter für Elektronikbaugruppen

Elektronikbaugruppen können nicht fehlerfrei gefertigt werden, da der Mensch Fehler erzeugt und defekte bzw. falsche Bauteile montiert werden, was zu Fehlerraten von 2 % bis 30 % führt. Daher ist es ein Muss, die Baugruppen zu testen. Das Adapterkonzept hat entscheidenden Einfluss auf den Aufwand und die Sicherheit des Tests. Die nachfolgend vorgestellten Lösungen bieten viele Vorteile.

Jahr2013
HeftNr6
Dateigröße826 KByte
Seiten1268-1271

Prüfadapter für elektronische Baugruppen

Nach Informationen der Reinhardt System- und Messelectronic GmbH, Diessen-Obermühlhausen, ist bei der Herstellung von elektronischen Baugruppen erfahrungsgemäß ein Test notwendig, denn Fehlerraten von 2 % bis 40 % sind zu erwarten. Heute werden viele Baugruppen nicht mehr im Europaformat von 100 mm x 160 mm mit einem oder zwei Steckern oder im Doppeleuropaformat mit zwei und mehr Steckern ausgeführt sowie die Stecker oft vertikal ...
Jahr2014
HeftNr9
Dateigröße628 KByte
Seiten1962-1965

Prüfadapter für elektronische Flachbaugruppen

Da 100 % aller Flachbaugruppen getestet werden müssen, müssen auch entsprechende Testsysteme mit der dazu- gehörigen Adaption zur Verfügung gestellt werden. Die Reinhardt GmbH in Diessen-Obermühlhausen fertigen seit 1979 Funktionstestsysteme und seit 1988 kombinierte Funktions- und Incircuittestsysteme.

Jahr2008
HeftNr12
Dateigröße440 KByte
Seiten2617-2619

Prüfanlagen für das Testen unter extremen Temperaturen

Damit elektronische Bauteile und Steuerungssysteme für Fahrzeuge in allen Klimazonen der Welt zuverlässig ihre Funktion erfüllen, verlangt die Automobilindustrie bei allen sicherheitsrelevanten Komponenten eine Hundert-Prozent-Kontrolle. Hier konnten die Firmen Baumann Automation und SMT mit einem Klimatester eine besonders energieeffiziente Prüfanlage für die Qualitätssicherung realisieren.

Jahr2016
HeftNr8
Dateigröße653 KByte
Seiten1546-1547

Prüfen in der dritten Dimension Erhöhte Fehlerabdeckung für die Qualitätssicherung von Elektronikprodukten

Der Einsatz von AOI-Systemen in der Elektronikfertigung hat sich mittlerweile als Standard etabliert und ist als Hilfsmittel zur Qualitätssicherung nicht mehr wegzudenken. Dabei findet man als häufig-sten Anwendungsfall die Inspektion von bestückten und gelöteten Leiterplatten. Die Prüfungen beziehen sich hierbei insbesondere auf Anwesenheit, Lagerichtigkeit, Polung und richtige Lötung der Bauelemente. Auch wenn die zu prüfenden ...
Jahr2004
HeftNr6
Dateigröße265 KByte
Seiten946-948

Prüfen in drei Dimensionen

Die 3D-MID-Baugruppeninspektion bei der Harting AG mit dem AOI-System Viscom S6056 MID wird beschrieben. Dabei wird auf die besonderen Herausforderungen der 3D-MID-Inspektion und deren Lösung eingegangen. Die Harting AG setzt für ihre qualitativ anspruchsvollen Kunden aus den Branchen Automobil- und Medizintechnik immer häufiger die 3D-MID-Technologie (Molded Interconnect Device) ein. Diese dreidimensionalen Bauteile aus Kunststoff weisen ...
Jahr2013
HeftNr10
Dateigröße941 KByte
Seiten2193-2196

Prüfmethoden zur Beurteilung von Schutz- maßnahmen an elektronischen Baugruppen

Das Lackieren von elektronischen Baugruppen ist vor allem in der Automobilindustrie weit verbreitet, da an vielen Einbauorten im Kfz eine Betauung während des Betriebes nicht ausgeschlossen werden kann. Es ist in Form von Qualifizierungsprüfungen meist eine betauende Umgebung vorgegeben, so dass ohne Schutzlackierung ein Bestehen der Qualifikationsprüfungen nicht möglich ist. //  Lacquering or conformal coating of electronic ...
Jahr2009
HeftNr5
Dateigröße718 KByte
Seiten1122-1125

Prüfstand für teil- und vollautonome Fahrzeuge

Dürr Assembly Products hat mit x-road curve in Korea einen Prüfstand für autonome und teilautonome Fahrzeuge in Betrieb genommen. Beteiligt am Projekt war dSPACE. Das Unternehmen der Dürr Systems AG, einem renommierten Lieferanten von Fertigungstechnologie unter anderem für die Automobilindustrie, hat den innovativen Multifunktionsprüfstand für autonome und teilautonome Fahrzeuge x-road curve für den Auftraggeber Korea Transportation ...
Jahr2022
HeftNr7
Dateigröße1,243 KByte
Seiten988-990

Prüftechnologie-Forum 2017 – die gesamte Prozesskette im Blick

Zum zweiten Mal veranstaltete die Göpel electronic GmbH ein Prüftechnologie-Forum in Weimar. ,Wenn
Fehlerwolken aufziehen‘ lautete in diesem Jahr das Motto. Denn genau so plötzlich wie Regengüsse können in der Elektronikfertigung auch Fehler auftreten. Auf der Veranstaltung wurde über neue Test- und Inspektions-lösungen informiert, mit denen die gesamte Prozesskette abgedeckt werden kann.

Jahr2017
HeftNr7
Dateigröße2,071 KByte
Seiten1253-1255

Prüftechnologie-Forum in Weimar – rundum ein Erfolg

Die Göpel electronic GmbH, Jena, hat in Weimar das Prüftechnologie-Forum 2015 veranstaltet. Der Mix aus aktuellen Beiträgen sowohl zu optischen als auch zu elektrischen Tests in Verbindung mit der Ausstellung und den praktischen Anwendungen fand großes Interesse. Die erste Veranstaltung dieser Art war auf Anhieb ein großer Erfolg. Deshalb soll diese in Zukunft alle zwei Jahre stattfinden.

Jahr2015
HeftNr6
Dateigröße935 KByte
Seiten1218-1222

Prüfung der Qualität von Einpressverbindungen

Auf elektronischen Baugruppen kommen Einpressverbindungen insbesondere als lötfreie Anschlusstechnik für hochpolige Steckverbinder zum Einsatz. Beim Einpressen der Einpressstifte in die Durchkontaktierungen der Leiterplatte erfährt diese eine mechanische Belastung, die zur Schädigung der Leiterplatte führen kann. Auch Schäden an den Einpresskontakten sind möglich. Basismaterial, Design und Metallisierung der Leiterplatte müssen daher ...
Jahr2015
HeftNr5
Dateigröße810 KByte
Seiten1013-1020

PSGA - Eine Revolution nicht nur im IC-Packaging

1 Anforderungen, Probleme
und Entwicklungen im Packaging

Pflichtenhefte für das Packaging von ASIC, Speicher und Mikrocontroller fordern einen superflachen Aufbau, einen minimalen Flächenbedarf, eine hohe Anschlußdichte und vor allem günstige Kosten. Das IC-Gehäuse muß zudem nicht nur funktional, sondern auch leicht verarbeitbar sein.

 

Jahr1999
HeftNr2
Dateigröße531 KByte
Seiten236-239

PSoCs für anspruchsvolle Anwendungen

Mit der Erweiterung seiner Low-Power-Produktfamilie um leistungsstarke PSoCs (Programmable System on Chip) dringt Cypress nun auch in den High-End-Bereich vor. Der Halbleiterhersteller für Mixed- Signal-Lösungen will damit attraktiver für den Markt energiehungriger embedded-Applikationen werden wie etwa industrielle Anwendungen, Medizintechnik, Automotive-Applikationen, Kommunikationstechnik und Consumer-Equipment. Der Gesamtmarkt für ...
Jahr2009
HeftNr12
Dateigröße571 KByte
Seiten2758-2760

Psychologie als Wirtschaftsfaktor

Der arbeitende Mensch ist keine Maschine, deren Leistung konstant und von äußeren Faktoren weitgehend unabhängig ist. Wir werden mehr oder weniger von Stimmungen beherrscht, die uns unsere täglichen Aufgaben entweder freudig bis begeistert oder routinemäßig gelangweilt bis missmutig erledigen lassen. Entsprechend ist dann auch das Ergebnis. Wer „gut drauf" ist, schafft mehr als derjenige, der unmotiviert das Ende der Arbeit ...
Jahr2006
HeftNr4
Dateigröße155 KByte
Seiten541

Pulltest für Spezialverbindungen

Mechanische Abzugstests – so genannte Pull Tests – bieten gute Aussagen über die Qualität elektroni- scher Verbindungen. Für Wire-Bond-Verbindungen wird mit Pullhaken gearbeitet, für andere Verbindun- gen gibt es den Tweezertest. Im Beitrag werden verschiedene Mikrogreifer (Tweezertools) vorgestellt und deren Einsatzmöglichkeiten diskutiert.

Jahr2005
HeftNr5
Dateigröße222 KByte
Seiten887-889

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