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Dokumente
Prozessproblematiken Oberfläche, Montage und Schadensanalyse
Jahr | 2011 |
HeftNr | 1 |
Dateigröße | 559 KByte |
Seiten | 121-124 |
Prozesssicherheit und Prozessüberwachung in der Leiterplattenfertigung
Die Fertigung der Jenaer Leiterplatten GmbH (JLP) ist speziell auf die Produktion von Klein- und Mittel- serien ausgerichtet, wobei die Schwerpunkte auf Musterleiterplatten und Eilservice liegen. Um Qualität und Liefertreue zu steigern, wurden jetzt neue Maßnahmen zur Überwachung der Prozesse und -medien ergriffen, die im Folgenden dargelegt werden.
Jahr | 2008 |
HeftNr | 11 |
Dateigröße | 533 KByte |
Seiten | 2378-2382 |
Prozesssicherheit vor dem Prototypenbau
Jahr | 2021 |
HeftNr | 7 |
Dateigröße | 375 KByte |
Seiten | 862 |
Prozesstrends und Messtechnik für impedanzkontrollierte Leiterplattenproduktion
Jahr | 2013 |
HeftNr | 10 |
Dateigröße | 736 KByte |
Seiten | 2142-2145 |
Prüfadapter für bestückte elektronische Flachbaugruppen, Module und Hybride
Elektronische Flachbaugruppen, Module und Hybride lassen sich bis heute und leider auch in Zukunft nicht fehlerfrei fertigen. Sie müssen also zu hundert Prozent getestet werden. Dabei werden im wesentlichen zwei Testverfahren unterschieden, der Incircuittest und der Funktionstest.
Jahr | 2002 |
HeftNr | 6 |
Dateigröße | 737 KByte |
Seiten | 1018-1023 |
Prüfadapter für Elektronikbaugruppen
Elektronikbaugruppen können nicht fehlerfrei gefertigt werden, da der Mensch Fehler erzeugt und defekte bzw. falsche Bauteile montiert werden, was zu Fehlerraten von 2 % bis 30 % führt. Daher ist es ein Muss, die Baugruppen zu testen. Das Adapterkonzept hat entscheidenden Einfluss auf den Aufwand und die Sicherheit des Tests. Die nachfolgend vorgestellten Lösungen bieten viele Vorteile.
Jahr | 2013 |
HeftNr | 6 |
Dateigröße | 826 KByte |
Seiten | 1268-1271 |
Prüfadapter für elektronische Baugruppen
Jahr | 2014 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 628 KByte |
Seiten | 1962-1965 |
Prüfadapter für elektronische Flachbaugruppen
Da 100 % aller Flachbaugruppen getestet werden müssen, müssen auch entsprechende Testsysteme mit der dazu- gehörigen Adaption zur Verfügung gestellt werden. Die Reinhardt GmbH in Diessen-Obermühlhausen fertigen seit 1979 Funktionstestsysteme und seit 1988 kombinierte Funktions- und Incircuittestsysteme.
Jahr | 2008 |
HeftNr | 12 |
Dateigröße | 440 KByte |
Seiten | 2617-2619 |
Prüfanlagen für das Testen unter extremen Temperaturen
Damit elektronische Bauteile und Steuerungssysteme für Fahrzeuge in allen Klimazonen der Welt zuverlässig ihre Funktion erfüllen, verlangt die Automobilindustrie bei allen sicherheitsrelevanten Komponenten eine Hundert-Prozent-Kontrolle. Hier konnten die Firmen Baumann Automation und SMT mit einem Klimatester eine besonders energieeffiziente Prüfanlage für die Qualitätssicherung realisieren.
Jahr | 2016 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 653 KByte |
Seiten | 1546-1547 |
Prüfen in der dritten Dimension Erhöhte Fehlerabdeckung für die Qualitätssicherung von Elektronikprodukten
Jahr | 2004 |
HeftNr | 6 |
Dateigröße | 265 KByte |
Seiten | 946-948 |
Prüfen in drei Dimensionen
Jahr | 2013 |
HeftNr | 10 |
Dateigröße | 941 KByte |
Seiten | 2193-2196 |
Prüfmethoden zur Beurteilung von Schutz- maßnahmen an elektronischen Baugruppen
Jahr | 2009 |
HeftNr | 5 |
Dateigröße | 718 KByte |
Seiten | 1122-1125 |
Prüfstand für teil- und vollautonome Fahrzeuge
Jahr | 2022 |
HeftNr | 7 |
Dateigröße | 1,243 KByte |
Seiten | 988-990 |
Prüftechnologie-Forum 2017 – die gesamte Prozesskette im Blick
Zum zweiten Mal veranstaltete die Göpel electronic GmbH ein Prüftechnologie-Forum in Weimar. ,Wenn
Fehlerwolken aufziehen‘ lautete in diesem Jahr das Motto. Denn genau so plötzlich wie Regengüsse können in der Elektronikfertigung auch Fehler auftreten. Auf der Veranstaltung wurde über neue Test- und Inspektions-lösungen informiert, mit denen die gesamte Prozesskette abgedeckt werden kann.
Jahr | 2017 |
HeftNr | 7 |
Dateigröße | 2,071 KByte |
Seiten | 1253-1255 |
Prüftechnologie-Forum in Weimar – rundum ein Erfolg
Die Göpel electronic GmbH, Jena, hat in Weimar das Prüftechnologie-Forum 2015 veranstaltet. Der Mix aus aktuellen Beiträgen sowohl zu optischen als auch zu elektrischen Tests in Verbindung mit der Ausstellung und den praktischen Anwendungen fand großes Interesse. Die erste Veranstaltung dieser Art war auf Anhieb ein großer Erfolg. Deshalb soll diese in Zukunft alle zwei Jahre stattfinden.
Jahr | 2015 |
HeftNr | 6 |
Dateigröße | 935 KByte |
Seiten | 1218-1222 |
Prüfung der Qualität von Einpressverbindungen
Jahr | 2015 |
HeftNr | 5 |
Dateigröße | 810 KByte |
Seiten | 1013-1020 |
PSGA - Eine Revolution nicht nur im IC-Packaging
1 Anforderungen, Probleme und Entwicklungen im Packaging
Pflichtenhefte für das Packaging von ASIC, Speicher und Mikrocontroller fordern einen superflachen Aufbau, einen minimalen Flächenbedarf, eine hohe Anschlußdichte und vor allem günstige Kosten. Das IC-Gehäuse muß zudem nicht nur funktional, sondern auch leicht verarbeitbar sein.
Jahr | 1999 |
HeftNr | 2 |
Dateigröße | 531 KByte |
Seiten | 236-239 |
PSoCs für anspruchsvolle Anwendungen
Jahr | 2009 |
HeftNr | 12 |
Dateigröße | 571 KByte |
Seiten | 2758-2760 |
Psychologie als Wirtschaftsfaktor
Jahr | 2006 |
HeftNr | 4 |
Dateigröße | 155 KByte |
Seiten | 541 |
Pulltest für Spezialverbindungen
Mechanische Abzugstests – so genannte Pull Tests – bieten gute Aussagen über die Qualität elektroni- scher Verbindungen. Für Wire-Bond-Verbindungen wird mit Pullhaken gearbeitet, für andere Verbindun- gen gibt es den Tweezertest. Im Beitrag werden verschiedene Mikrogreifer (Tweezertools) vorgestellt und deren Einsatzmöglichkeiten diskutiert.
Jahr | 2005 |
HeftNr | 5 |
Dateigröße | 222 KByte |
Seiten | 887-889 |