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Dokumente

Toshiba entwickelt NAND-Flash-Speicher im 24 nm-Verfahren

Toshiba hat einen neuen NAND-Flash-Speicher vorgestellt, der im 24-Nanometer-Verfahren gefertigt wurde.

Jahr2011
HeftNr6
Dateigröße121 KByte
Seiten1283

SourceMeter zum Test von Leistungshalbleitern

Egal ob High-Brightness-LEDs, Leistungshalbleiter oder DC/DC-Wandler zu testen sind: Mit dem High Power System-SourceMeter 2651A erweitert Keithley Instruments nicht nur seine Produktfamilie der Serie 2600A. Es wurde speziell für die Charakterisierung von Leistungselektronik entwickelt und zeichnet sich durch einen großen Strombereich aus.

Jahr2011
HeftNr6
Dateigröße262 KByte
Seiten1281-1283

Oszilloskope mit dem richtigen Dreh

Mit der nächsten Oszilloskop-Generation der WaveRunner-Familie 6 Zi ist LeCroy ein Coup gelungen: Die Displays lassen sich um 90° à la iPad drehen, was die Signaldarstellung genauso verbessern soll, wie die überarbeitete Menüführung. Zudem sollen die 12-Bit-Oszilloskope mit sechs Modellen von 400 MHz bis 4 GHz vor allem für lange Signalaufzeichnungen hilfreich sein.

Jahr2011
HeftNr6
Dateigröße377 KByte
Seiten1278-1280

Gold-Eisen-Hochleistungselektrolyt als leistungsfähige Alternative zu Kobalt- und Nickel-Hartgoldelektrolyten

Jahr2011
HeftNr6
Dateigröße490 KByte
Seiten1272-1277

Metall-Recycling – Enormes Potenzial liegt brach

Metalle werden weltweit viel zu selten dem Recycling zugeführt. Das ungenutzte Potenzial ihrer Wiederverwendung ist enorm, zeigt der Statusreport Recycling Rates of Metals des Umweltprogramms der Vereinten Nationen UNEP.

Jahr2011
HeftNr7
Dateigröße143 KByte
Seiten1648

Panasonic präsentiert gestengesteuertes TV-Gerät

Jahr2011
HeftNr7
Dateigröße146 KByte
Seiten1647

Granulat-Ätzsystem reinigt PV-Silizium

Für sein zukunftsweisendes Siliziumgranulat-Ätzsystem hat sich Decker Anlagenbau auf der Messe Intersolar Europe 2011 in München den Intersolar Award 2011 in der Kategorie PV-Produktionstechnik geholt. Mit dem System ist es möglich, das in PV-Zellen befindliche Silizium so zu reinigen, dass es sich wiederverwerten lässt. Das Thema Modul-Recycling ist ein großes Thema in der Solarbranche und wird von den Vordenkern heiß diskutiert.

Jahr2011
HeftNr7
Dateigröße241 KByte
Seiten1646-1647

Test- und Zuverlässigkeitsstrategien bei der Baugruppenproduktion

Moderne elektronische Baugruppen sind sehr komplexe Teilsysteme, die aus einer Vielzahl von unterschiedlichen Technologien zusammengebaut werden. Die Bezeichnung Mechatronisches System stimmt daher auch im wörtlichen Sinne als eine Zusammensetzung von mechanischen und elektronischen Einzelteilen. Hinzu kommt noch die Steuerung über Software und gegebenenfalls weitere Technologien.

Jahr2011
HeftNr7
Dateigröße547 KByte
Seiten1639-1644

AOI-Verfahrensabläufe und Anwendungsbeispiele

Der Einsatz automatischer optischer Inspektionssysteme (AOI) ist seit vielen Jahren integraler Bestandteil der Linienfertigung in der Elektronikindustrie. Begonnen hat der Siegeszug solcher Systeme in den späten 80er Jahren des vergangenen Jahrhunderts mit zunächst noch beschränktem Funktionsumfang. Fortschritte in der Computertechnologie ermöglichten bald immer leistungsfähigere Anlagen, die heute nicht nur Bilder im sichtoptischen ...
Jahr2011
HeftNr7
Dateigröße939 KByte
Seiten1628-1638

Blick in das Package – Möglichkeiten und Grenzen der zerstörungsfreien Charakterisierung mittels Röntgenmikroskopie

Die Elektronik und Mikrosystemtechnik sind durch eine fortschreitende Miniaturisierung und Erhöhung der Komplexität der Bauelemente geprägt. Beschrieben wird diese Entwicklung im Bereich der Halbleiterindustrie mit dem Mooreschen Gesetz und den weiterführenden Begriffen More Moore und More than Moore. Dabei ist die Entwicklung der Elektronik untrennbar mit der Entwicklung der zugehörigen Aufbau- und Verbindungstechnik (AVT) und der für ...
Jahr2011
HeftNr7
Dateigröße1,694 KByte
Seiten1611-1627

PCIM Europe 2011: Hunger nach Leistungselektronik

Der ungebrochene Hunger nach Leistungselektronik vor allem aus der eMobility und erneuerbaren Energien haben der Messe PCIM Europe 2011, die ihre Tore vom 17. bis 19 Mai 2011 in Nürnberg dem Fachpublikum geöffnet hatte, einen Senkrechtstart beschert: Die laut Veranstalter Mesago weltgrößte Leistungselektronikmesse verbuchte eine Rekordzahl an Ausstellern, Besuchern und Konferenzteilnehmern.

Jahr2011
HeftNr7
Dateigröße757 KByte
Seiten1599-1606

Die ganze Welt des selektiven Lötens

Die Eutect Verbindungstechnik eröffnet mit ihrem Modulbaukasten eine hohe Flexibilität bei kostengünstigen und zeitsparenden Einsätzen. Die ganzheitliche ideale Wirkungsweise aus Automatisierungs- und Verbindungstechnik bildet die Voraussetzung für eine erfolgreiche zukunftsorientierte Produktentwicklung und deren Realisierung in praxisorientierten Prozessen und Projekten.

Jahr2011
HeftNr7
Dateigröße493 KByte
Seiten1589-1594

UCAM Hyperscript Automatisierungstraining 2011

Die FineLine Technologie GmbH mit Sitz in München hat zusammen mit Ucamco im Mai zwei Trainingseinheiten zum Thema UCAM Hyperscript Automatisierung organisiert.

Jahr2011
HeftNr7
Dateigröße183 KByte
Seiten1588

Service der Asys Group – Höchste Ansprüche an Qualität und Erreichbarkeit

Die in die drei Bereiche SMT, Solar und Sieb- und Schablonendrucksysteme unterteilte Serviceorganisation der Asys Group verfügt über eine Vielzahl verschiedener Leistungen, jeweils maßgeschneidert für den kleineren oder größeren Support. Qualität und Erreichbarkeit wird dabei groß geschrieben. Zukünftig wird sich der Service der Asys Group dahin gehend entwickeln, dass über moderne Datenbanksysteme gebu?ndeltes Servicewissen ...
Jahr2011
HeftNr7
Dateigröße331 KByte
Seiten1585-1587

Paroteq M-System – kompakte Plattformen für den stationären und mobilen Einsatz

Der Einsatz von hochintegrierter Technik in heutigen Systemen und Anlagen stellt neue Anforderungen an die im Servicefall benötigten Hilfsmittel und Werkzeuge. So wird es zum Beispiel immer schwerer auf einer Steuerplatine ein Bauelement einfach mit einem Lötkolben vor Ort zu wechseln.

Jahr2011
HeftNr7
Dateigröße192 KByte
Seiten1584

TechnoLab: Test auf atmosphärische Korrosion und Temperaturschock

Der Einfluss von Umweltfaktoren, wie Gase oder große Temperaturunterschiede, auf die Funktionszuverlässigkeit von Produkten nimmt zu. Deshalb wird es zunehmend wichtig, über das Verhalten derselben mehr zu wissen. TechnoLab als ausgewiesenes Unternehmen für Qualifikation und Test von Erzeugnissen der Elektro- und Elektronikindustrie kann dazu seit kurzem erweiterte, entsprechende Dienstleistungen anbieten.

Jahr2011
HeftNr7
Dateigröße209 KByte
Seiten1583

40 Jahre INGUN – eine Erfolgsgeschichte vom Bodensee

Bei zum Anlass passendem, strahlendem Sonnenschein feierte die INGUN Prüfmittelbau GmbH aus Konstanz Ende Mai 2011 ihr 40jähriges Firmenjubiläum. Das traditionelle Familienunternehmen entwickelte sich vom Sieben-Mann-Betrieb zur weltweiten Nummer 1 in der Prüftechnik. Mit mehr als 350 Baureihen und über 15000 Varianten an gefederten Kontaktstiften und kundenspezifischen Prüfadaptern bietet INGUN heute seinen Kunden eine einzigartige ...
Jahr2011
HeftNr7
Dateigröße1,059 KByte
Seiten1578-1582

Innovationen fu?r den Schablonendruck von DEK

Jahr2011
HeftNr7
Dateigröße186 KByte
Seiten1577

BFE-Jahrestagung 2011 – Bleifrei-Studien weiterhin nötig

Der Fachverbund BFE Blei-Freie Elektronik e.V. veranstaltete seine 23. BFE-Tagung am 29. und 30. März 2011 im Vogel Convention Center (VCC) in Würzburg. In Verbindung mit der Tagung fanden eine Sitzung des BFE-Beirats, die BFE-Mitgliederversammlung 2011 und ein Arbeitsessen in der Würzburger Traditionsgaststätte Badöfele statt. Fazit der Veranstaltung ist, dass trotz des seit fast 5 Jahren bestehenden Bleiverbots weiterhin Studien vor ...
Jahr2011
HeftNr7
Dateigröße495 KByte
Seiten1573-1576

Die Rinde Technologie Roadshow zu Gast bei den Lackwerken Peters in Kempen

Bericht über eine Vortragsveranstaltung am 25. Mai 2011 zu Themen rund um die Leiterplatte

Jahr2011
HeftNr7
Dateigröße460 KByte
Seiten1560-1564

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