Gemeinsam mit drei weiteren Projektpartnern und unter Leitung des Fraunhofer IPM nimmt BIA am KI-Innovationswettbewerb teil.
In der Oberflächenprüfung von Bauteilen in der Serienproduktion ist eine zuverlässige Inspektion von Bauteilen entscheidend für die Qualitätssicherung. Kamerabasierte Inspektionssysteme auf Basis von KI-Modellen bieten eine effiziente Lösung, jedoch stellt die Erkennung von Defekten mit wenigen Musterteilen eine Herausforderung dar. Das Projekt zielt darauf ab, diese Herausforderung zu meistern, indem ein generatives KI-Modell entwickelt wird, das Bilddaten von Defektteilen synthetisch erzeugt. Basierend auf wenigen realen Bildern lernt das Modell, Defekte zu erkennen und neue, plausible Bilder zu generieren. So wird der Trainingsdatensatz des Inspektionssystems erweitert und die Erkennungsgenauigkeit verbessert. Um den Ansatz branchenübergreifend anwendbar zu machen, werden flexible optische Inspektionssysteme eingesetzt. Insbesondere wird ein Tunnel-Inspektionssystem für zwei Anwendungsfälle entwickelt. Der Ansatz wird in verschiedenen Industrien validiert, um einen erfolgreichen Transfer nach Projektabschluss zu gewährleisten.
