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Dokumente
DVS-Mitteilungen
Der DVS – Deutscher Verband für Schweißen und verwandte Verfahren e. V. wird zusammen mit der Fachgesellschaft Löten im DVS am 8. Februar 2011 im Richard-Küch-Forum in Hanau die Tagung Weichlöten 2011 durchführen. Unter der Leitung von Prof. Mathias Nowottnick, Universität Rostock, Fakultät für Informatik und Elektrotechnik, wird die Weichlöttechnik in der Elektronikfertigung von verschiedenen Seiten beleuchtet.
Jahr | 2010 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 198 KByte |
Seiten | 1879-1880 |
Zuverlässigkeitsuntersuchung auf Basis von Baugruppen für die Automobilindustrie
Jahr | 2010 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 1,243 KByte |
Seiten | 1871-1878 |
Vapour Phase Soldering Applications for PCB Assembling
Jahr | 2010 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 1,296 KByte |
Seiten | 1861-1870 |
On the Application of Solder Balls for 3D Packaging
Jahr | 2010 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 377 KByte |
Seiten | 1855-1860 |
3-D MID-Informationen
Einladung zum 9. Internationalen Kongress MID 2010 29./30.09.2010 in Nürnberg-Fürth Spritzgegossene Schaltungsträger (Molded Interconnect Devices) integrieren elektrische/elektronische, mechanische, fluidische und optische Funktionen. Die direkte Applizierung auf beliebig geformten thermoplastischen Substraten erfüllt die Forderung nach Miniaturisierung und erweiterter Funktionalität.
Jahr | 2010 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 411 KByte |
Seiten | 1852-1854 |
HiCoFlex® ist jetzt wirklich dünn
Jahr | 2010 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 198 KByte |
Seiten | 1851 |
Printed Electronics Conference
Jahr | 2010 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 458 KByte |
Seiten | 1849-1851 |
JPCA-Show 2010 mit zahlreichen Neuheiten bei Leiterplatten
Die jährliche JPCA Show ist eine der wichtigsten Fachveranstaltungen der japanischen Elektronikindustrie. Sie wird schon seit einigen Jahren zusammen mit weiteren Shows im Messe- und Konferenzzentrum Tokyo Big Sight organisiert: der JIEP Microelectronics Show und der JISSO PROTEC Exhibition. Diese kamen im Verlaufe der Jahre schrittweise zur JPCA Show hinzu.
Jahr | 2010 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 417 KByte |
Seiten | 1846-1848 |
Microelectronic Packaging Dresden GmbH
Jahr | 2010 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 291 KByte |
Seiten | 1845 |
Cicor-Technologies-Gruppe mit RHe, Cicorel, Reinhardt und Photochemie
Jahr | 2010 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 448 KByte |
Seiten | 1844-1845 |
Substrate für die Leistungselektronik – Materialien, Eigenschaften, Techniken, Zuverlässigkeit
Jahr | 2010 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 731 KByte |
Seiten | 1834-1843 |
Metallisierungsverfahren für die 3D-Integration in der Mikroelektronik und Mikrosystemtechnik
Jahr | 2010 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 445 KByte |
Seiten | 1829-1833 |
3D-Aufbau- und Verbindungstechnologie von Xenon
Jahr | 2010 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 270 KByte |
Seiten | 1828 |
Eröffnung des Fraunhofer IZM-ASSID – Zentrum für die 3D-Systemintegration auf Waferebene
Rund 200 Gäste aus Politik und Industrie waren gekommen, um am 31. Mai 2010 die Einweihung des neuen zum Fraunhofer IZM gehörenden Zentrums zu feiern. Im nachfolgenden Bericht werden das neue Zentrum All Silicon System Integration Dresden (ASSID) vorgestellt sowie die Inhalte des Pressegesprächs und der Statements der Festredner zur Eröffnung wiedergegeben.
Jahr | 2010 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 932 KByte |
Seiten | 1824-1828 |
iMAPS-Mitteilungen
Jahr | 2010 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 253 KByte |
Seiten | 1820-1823 |
ASYS stellte gleich mehrere neue Highlights aus
Jahr | 2010 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 198 KByte |
Seiten | 1819 |
Neue Stereomikroskope von Leica
Jahr | 2010 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 204 KByte |
Seiten | 1818 |
Neues bei Werner Wirth Systems
Jahr | 2010 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 305 KByte |
Seiten | 1817-1818 |
Autofokus-Inspektionssystem aus Jena
Jahr | 2010 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 207 KByte |
Seiten | 1817 |
Flying Prober von Seica noch universeller einsetzbar
Der ATE-Spezialist Seica SpA zeigte den Pilot V8, einen doppelseitigen, vertikalen Flying Prober, das FlyScan Modul als einen neuen Ansatz für die Integration der Boundary Scan-Technik in Flying Probe Testsystemen und das Selektivlötsystem Firefly mit neuer verbesserter Software.
Jahr | 2010 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 306 KByte |
Seiten | 1816-1817 |