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Mittwoch, 30 Dezember 2020 13:00

Mikroskopie zum drunter schauen

von Volker Tisken
Geschätzte Lesezeit: 1 Minute
Digitalmikroskop für BGA-Kontrolle Digitalmikroskop für BGA-Kontrolle Digitalmikroskop für BGA-Kontrolle

Ein neues BGA-Inspektionssystem, das über eine äußerst kleine optische Sonde mit eingebauter Hochleistungsbeleuchtung verfügt und 90° Betrachtungswinkel ermöglicht, stellt die schwedische Inspectis AB (Solna, S) vor.

Das System erzeugt hochauflösende Bilder der extrem lichtschwachen Bereiche unter BGAs, μBGAs, CSP-, CGA- und FlipChip-Gehäusen mit einem Abstand von nur 40 µ, so dass sich Mikrorisse, kalte Lötstellen, Whisker, fehlenden Balls, Skalierung, überschüssiges Flussmittel und andere Lötprobleme aus dem Bereich der SMT-Baugruppenfertigung und BGA-Verarbeitung erkennen lassen. Die Optik ist variabel fokussierbar und macht es dem Anwender in Verbindung mit dem flexiblen, elektronisch dimmbaren Glasfaserpinsel-Licht als Hintergrundbeleuchtung möglich, BGA-Löthöcker von der 1. Bis zur 20. Reihe präzise abzubilden.

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