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Dokumente
Verwendung von Flussmitteln beim Durchkontaktieren von Leiterplatten
Jahr | 2016 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 468 KByte |
Seiten | 1693-1694 |
Verwendung von Deckfolien in Verbindung mit flexiblen und starr-flexiblen Leiterplatten
Jahr | 2008 |
HeftNr | 5 |
Dateigröße | 840 KByte |
Seiten | 922-928 |
Vertikale Durchlaufanlage zum Entwickeln, Ätzen, Strippen und Trocknen
Mit dem optimal aufeinander abgestimmten Geräteprogramm der Walter Lemmen GmbH lässt sich der gesamte Fertigungsprozess zur Herstellung von Leiterplatten- und Multilayer-Prototyen bis zur Kleinserie abdecken. So können hochwertige Leiterplatten mit komplexen Strukturen, feinen Leiterplattenbreiten und -abständen auf unterschiedlichen Basismaterialien erzeugt werden.
Jahr | 2015 |
HeftNr | 3 |
Dateigröße | 359 KByte |
Seiten | 470 |
Vertikal oder horizontal
Jahr | 2000 |
HeftNr | 1 |
Dateigröße | 186 KByte |
Seiten | 1 |
Vertical System Integration by Using Inter-Chip Vias and Solid-Liquid Interdiffusion Bonding
Jahr | 2006 |
HeftNr | 10 |
Dateigröße | 439 KByte |
Seiten | 1751-1754 |
Verteilte Ereigniserkennung in drahtlosen Sensornetzen überwacht Zaun-, Reha- und Sportanwendungen
Jahr | 2012 |
HeftNr | 3 |
Dateigröße | 572 KByte |
Seiten | 629-635 |
Verstärker widersteht Weltraumtemperaturen
Jahr | 2009 |
HeftNr | 4 |
Dateigröße | 270 KByte |
Seiten | 774-775 |
Verstärker halbiert Smartphone-Energieverbrauch
Das US-Start-up-Unternehmen Eta Devices hat einen neuartigen Signalverstärker entwickelt [1]. Mit der neuen Technologie, die zwei MIT (Massachusetts Institute of Technology)-Professoren erfanden, soll sich der Stromverbrauch von Smartphones und Sendestationen für Mobilfunknetze in Zukunft halbieren lassen. Die Technologie soll auf dem Mobile World Congress im Februar 2013 in Barcelona offiziell vorgestellt werden.
Jahr | 2012 |
HeftNr | 12 |
Dateigröße | 767 KByte |
Seiten | 2607-2608 |
Version V17 des EDA-Tools Target 3001! ist erschienen
Jahr | 2014 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 353 KByte |
Seiten | 1663 |
Verschmelzung von Elektrizitätswirtschaft und IT – neue Chancen für die Elektronikindustrie
Jahr | 2009 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 294 KByte |
Seiten | 1714-1717 |
Verschiedene Siliziumkarbid-Technologien im direkten Vergleich
Jahr | 2012 |
HeftNr | 10 |
Dateigröße | 644 KByte |
Seiten | 2128-2131 |
Vernetzte Fahrzeuge werden schnell Teil des Internet of Things
Jahr | 2016 |
HeftNr | 10 |
Dateigröße | 623 KByte |
Seiten | 2000-2005 |
Vernetzte 3D-Inspektion – ein Beispiel aus der Praxis
Deltec Automotive setzt bei den Prüftechnologien Lotpastenkontrolle (SPI), automatische optische Inspektion (AOI) sowie automatische und manuelle Röntgeninspektion (AXI/MXI) auf die 3D-Systeme von Viscom. In der täglichen Anwendung werden die nutzerfreundlichen Vorteile deutlich sichtbar.
Jahr | 2017 |
HeftNr | 11 |
Dateigröße | 1,284 KByte |
Seiten | 1992-1993 |
Vernetzt in die Zukunft
Jahr | 2012 |
HeftNr | 8 |
Dateigröße | 928 KByte |
Seiten | 1831-1840 |
Verlustwärme elegant abführen
Jahr | 2008 |
HeftNr | 10 |
Dateigröße | 962 KByte |
Seiten | 2138-2143 |
Verleihung des EITI-Award 2000
Am 24.11.2000 wurde in der ZVEI-Arena auf der electronica der EITI-Award 2000 verliehen. Der öffentlich ausgeschriebene und mit 10 000 DM dotierte Preis ging an Dipl.-Ing. Joachim Ulbricht, BuS Elektronik, Riesa für die Entwicklung einer innovativen SMD-LED-Vollmatrixanzeige.
Jahr | 2001 |
HeftNr | 1 |
Dateigröße | 120 KByte |
Seiten | 39 |
Verleihung der MID-Industriepreise 1999
Jahr | 2000 |
HeftNr | 1 |
Dateigröße | 243 KByte |
Seiten | 74-75 |
Verlässliche Inspektion von Lötverbindungen an BGA, µBGA, CSP und Flip-chip-packages
Die Qualitätskontrollen im Bereich der Elektronikfertigung werden anspruchsvoller, die Bauteile sind kleiner und komplexer geworden und die Bestückungsdichte der Leiterkarten nimmt immer weiter zu. Bei der zunehmenden Miniaturisierung ist es von entscheidender Bedeutung, Materialfehler noch im Vorfeld auszusortieren, Bestückungs- und Lötfehler zuverlässig zu erkennen und deren Ursachen zu analysieren.
Jahr | 2015 |
HeftNr | 11 |
Dateigröße | 413 KByte |
Seiten | 2303-2304 |
Verkupferung von Leiterplatten im Pulse Plating-Verfahren
Jahr | 1999 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 984 KByte |
Seiten | 1271-1279 |
Verkupferung von Leiterplatten im Pulse Plating-Verfahren
Jahr | 1999 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 984 KByte |
Seiten | 1271-1279 |
Verklebungsfreie Trommelverzinnung von Kleinbauteilen
Das Verkleben von Schüttgut, welches mit einer Trommelgalvanik verzinnt wird, ist einer der größlten Faktoren für Ausschuss in diesem Prozess. Bei der Firma Schlötter wurde nun ein neuer Elektrolyt entwickelt, der dieses Problem minimiert und die Trommel-Beschichtung in einem Mattzinn-Elektrolyt effizienter macht.
Jahr | 2015 |
HeftNr | 2 |
Dateigröße | 489 KByte |
Seiten | 321-324 |
Verigy: Skalierbarer Chiptester senkt Testkosten
Die Übernahme durch Advantest Group im März 2011 ist abgeschlossen und die Bündelung des Know-hows zeigt nun erste Früchte. Das Tester-Portfolio wurde um ein Kompaktsystem erweitert. Zusammen mit den anderen Testern dieser Reihe bildet sich damit eine Familie von individuell skalierbaren Testsystemen für hochentwickelte Halbleiterdesigns einschließlich 3D-Architekturen und IC-Designs mit Strukturen von 28 nm und kleiner.
Jahr | 2012 |
HeftNr | 4 |
Dateigröße | 341 KByte |
Seiten | 763-765 |
Verificationstool von Zuken für E3.cable 2009
EDA-Software-Anbieter Zuken hat E3.cable 2009 um leistungsfähige Prüfungen für elektrische Schaltungen erweitert, mit denen Anwender ihre Designs prüfen und deren Funktion verifizieren können, ohne dafür externe Werkzeuge zu verwenden. Für das neue Verificationstool konnte das Unternehmen auf das Know-how der Entwicklerteams für die verschiedenen Zuken-Lösungen für Kabeldesign zurückgreifen.
Jahr | 2009 |
HeftNr | 7 |
Dateigröße | 462 KByte |
Seiten | 1498 |
Verhinderung von Whiskerbildung
Jahr | 2004 |
HeftNr | 2 |
Dateigröße | 346 KByte |
Seiten | 209-216 |
Verhalten von Bleifrei-Lotpasten beim Drucktest
Ein in Zusammenarbeit mehrerer Firmen durchgeführter Drucktest mit bleifreien Lotpasten und die dabei gewonnenen Erkenntnisse werden beschrieben. Getestet wurden zwei verschiedene Bleifrei-Pasten, wobei das Löten ohne Bauteile in einem Vollkonvektionsofen erfolgte. Zum Drucken wurde eine laser- geschnittene Edelstahlschablone mit 127 µm Dicke verwendet.
Jahr | 2003 |
HeftNr | 4 |
Dateigröße | 223 KByte |
Seiten | 607-610 |
Vergusstechniken für den Schutz von Flachbaugruppen
Jahr | 2005 |
HeftNr | 5 |
Dateigröße | 454 KByte |
Seiten | 893-901 |
Verguss unter Vakuum mit BARTEC Dispensing Technology
Jahr | 2008 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 156 KByte |
Seiten | 1930 |
Vergrabene Widerstände für den Einsatz in LTCC MCMs
Jahr | 1999 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 795 KByte |
Seiten | 1318-1324 |
Vergleichstest verlustarmer LTCC-Systeme bis 40 GHz
Jahr | 2003 |
HeftNr | 9 |
Dateigröße | 538 KByte |
Seiten | 1407-1413 |
Vergleichende Eigenschaften von Legierungen im flüssigen Zustand
Jahr | 2006 |
HeftNr | 12 |
Dateigröße | 820 KByte |
Seiten | 2120-2125 |