Montag, 11 April 2022 12:00

Produkt des Monats - Kontaktierlösung für die Mikroelektronik

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Finepitch-Starrnadeladapter für individuelle Prüfaufgaben

Das Kontaktieren von feinsten Prüfstrukturen und Testpunktabständen bei bestückten und unbestückten Substraten ermöglichen die Starrnadeladapter für Microcontact-Testsysteme – beispielsweise das Handprüfgerät MCit oder den Vollautomat MCom. Mit Hilfe der Adapter lassen sich das Layout optimieren, eine größere Prüfdichte erreichen und die Produktionskosten senken. Dank der erreichbaren sehr hohen Standzeiten und in kurzer Zeit selbstständig durchführbarer Servicearbeiten fallen zudem nur geringe Wartungskosten an.

Im Bareboard-Test lassen sich Testpunkte mit einem Durchmesser von 40 μm bei Pitch-Abständen von 80 μm kontaktieren. Dabei können punktuell über 450 Testpunkte/cm² aufgelöst werden. Auch empfindlichste Oberflächen können kontaktiert werden.

Aufgrund der exakten Nadelführung und des geringen Taumelspiels können auch auf bestückten Substraten feinste Strukturen abgegriffen werden. Bei den Siriusadaptern treten die Nadeln mit einem minimalen Taumelspiel senkrecht aus dem Adapter aus, wodurch die Testpunkte noch kleiner realisiert werden können und noch näher an Bauteile kontaktiert werden kann. Rein mit der Reduktion des Testpunktes von ø0.8 mm auf ø0.2 mm kann die benötige Testpunktfläche um das 16-fache reduziert werden.

Micro Contact unterstützt Anwender bei der Lösung von Herausforderungen – die entsprechenden Adapter können dank optimierter interner Abläufe, einer eigenen Bohrsoftware und der engen Zusammenarbeit der involvierten Abteilungen mit Lieferzeiten von 3 Wochen fertiggestellt werden.